G01Q60-00_ 特殊类型的SPM [扫描探针显微术]或其设备；其基本组成 _专利分类查询_专利查询网_专利查询_钻瓜专利网_专利网

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G	物理

G01	测量；测试		查看

G01Q	扫描探针技术或设备；扫描探针技术的应用，例如，扫描探针显微术[SPM]		查看

G01Q60-00	特殊类型的SPM [扫描探针显微术]或其设备；其基本组成		查看

	G01Q60-02	.多个类型SPM，即包括两种或更多种SPM技术	查看

	G01Q60-10	.STM [扫描隧道显微术]或其设备，例如STM探针	查看

	G01Q60-18	.SNOM [扫描近场光学显微术]或其设备，例如，SNOM探针	查看

	G01Q60-24	.AFM [原子力显微术]或其设备，例如AFM探针	查看

	G01Q60-44	.SICM [扫描离子电导显微术]或其设备，例如SICM探针	查看

	G01Q60-46	.SCM [扫描电容显微术]或其设备，例如SCM探针	查看

	G01Q60-50	.MFM [磁力显微术]或其设备，例如MFM探针	查看

	G01Q60-58	.SThM [扫描热学显微术]或其设备，例如SThM探针	查看

	G01Q60-60	.SECM [扫描电化学显微术]或其设备，例如SECM探针	查看

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