[发明专利]磁记录装置的走带速度的测量方法及装置无效
申请号: | 01103720.2 | 申请日: | 1996-08-22 |
公开(公告)号: | CN1345055A | 公开(公告)日: | 2002-04-17 |
发明(设计)人: | 曾我部靖 | 申请(专利权)人: | 松下电器产业株式会社 |
主分类号: | G11B15/46 | 分类号: | G11B15/46 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 | 代理人: | 蹇炜 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 记录 装置 速度 测量方法 | ||
本申请是中国专利申请号为96109602.0的分案申请。
本发明是关于测量磁记录装置走带速度的测量方法及其装置。
VTR或DAT等螺线扫描型磁记录装置,由于其高功能化及高密度记录化,与一般磁记录装置相比,要求有高度的加工精度和可控制性。因此,对螺线扫描型磁记录装置的各参数的测量,必须比一般磁记录装置的各参数的测量更加严密。
在这种测量中,对记录在磁带上的信号幅度(磁道的宽度)的测量,是一个重要的测量项目,它是再生记录在磁带上的信号时,为了决定再生信号的电平所必须的。
在最近的螺线扫描型磁记录装置中,是通过安装在旋转圆筒上的多个磁头交互地扫描磁带(如图8所示)来把图象信号和(或)声音信号记录到磁带上的。磁道的宽度决定于旋转圆筒上安装的磁头的位置和走带速度。
下面对现有走带速度的测量方法进行说明。
相对于旋转圆筒的旋转,如果磁带的移动速度具有一定量的误差(走带速度偏差),将会引起磁道宽度的整体误差。例如,当相对于旋转圆筒的旋转,走带速度大于规定值时,对应于旋转圆筒的一个旋转周期的磁带移动距离将变长,使得磁道宽度比规定值增宽。反之,当相对于旋转圆筒的旋转,走带速度小于规定值时,对应于旋转圆筒的一个旋转周期的磁带移动距离将变短,使得磁道宽度比规定值窄。
这种走带速度偏差,会由于传送磁带的主导轴转数误差,主导轴轴径误差,主导轴与磁带间的打滑(空转)等而产生。当走带速度偏差在一定容许值以内时,可以通过控制主导轴的转数,例如ATF(Auto Track Fouowing)等来补偿走带速度偏差。但为了进行这种控制,要具备应付可能出现走带偏差应的控制系统。由于得到充分的控制系统,必须使用驱动主导轴的昂贵的马达以及复杂的控制电路。
为了尽量避免使用昂贵的马达和复杂的控制电路,就要把不进行ATF等控制时的走带速度偏差控制在某规定范围内。
在测量走带速度偏差时,可以采用主导轴旋转一转,产生数百个脉冲信号,记录其脉冲数,求出主导轴旋转误差,检测出走带速度偏差这样的方法。
这种走带速度偏差检测方法中,存在如下所述的问题。现在走带速度偏差检测方法中,引起走带速度偏差的主要原因的主导轴轴径误差、磁带与主导轴之间的空转等是无法检测的。而且,即使地主导轴输出的输出脉冲计数值控制在规定范围内,如果主导轴轴径存在误差,就会引起主导轴旋转速度误差,导致磁带实际速度的偏差。另外,主导轴为了传送磁带,而主导轴的旋转未传及磁带,使磁带空转的情况下,也会引起磁带速度与主导轴旋转速度之间的偏差。仅仅靠记录从主导轴输出的输出脉冲数,无法测量磁带走带时实际的走带速度偏差的问题也是存在的。
本发明的目前的是,检测磁带走带时的实际走带速度偏差。
为了达到上述目的,本发明采用以下技术方案:
一种测定磁记录装置的走带速度的测量方法,所述磁记录装置包括:
以第一走带速度或者不同于第一走带速度的第二走带速度驱动磁带的驱动电路;以及至少一个将在所述第一走带速度下记录在上述磁带上的第一及第二导频信号、以所述第二走带速度放音的磁头,所述测量方法的特征是:
根据由其至少一个磁头放音的所述第一及第二导频信号,生成表示第一导频信号与第二导频信号之差的时间变化关系的第一信号的生成过程;
检测所述第一信号的波长的检测过程;以及
根据所述第一走带速度和所述第二走带速度之差与所述第一走带速度之比例、其检测出的波长及事先确定的时间,计算走带速度偏差的过程。
所述的磁记录装置的走带速度的测量方法,其特征在于:
上述磁带具有第一磁道、第二磁道和夹在所述第一磁道与所述第二磁道之间的第3磁道,所述第一磁道中记录上述第一导频信号,所述第二磁道中记录上述第二导频信号,所述第3磁道中记录电平为0的导频信号。
一种测定磁记录装置的走带速度的测量装置,所述磁记录装置包括:
以第一走带速度或者不同于第一走带速度的第二走带速度驱动磁带的驱动电路;及至少一个将在所述第一走带速度下、记录在所述磁带上的第一及第二导频信号,以所述第二走带速度放音的磁头,所述测量装置的特征是包括:
根据所述至少一个磁头放音的第一导频信号及第二导频信号,生成表示第一导频信号与第二导频信号之差的时间变化关系的第一信号的生成部;
检测出所述第一信号波长的检测部;和
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