[发明专利]一种浮法抛光液膜厚度测量装置无效

专利信息
申请号: 02132423.9 申请日: 2002-06-06
公开(公告)号: CN1387022A 公开(公告)日: 2002-12-25
发明(设计)人: 徐长山;王君林 申请(专利权)人: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
主分类号: G01B11/06 分类号: G01B11/06
代理公司: 长春科宇专利代理有限责任公司 代理人: 刘树清
地址: 130022 *** 国省代码: 吉林;22
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摘要:
搜索关键词: 一种 抛光 厚度 测量 装置
【权利要求书】:

1、一种浮法抛光液膜厚度测量装置,是由抛光系统的抛光池、被加工件、工件轴、锡磨盘、磨盘轴组成的,其特征在于本发明是由抛光系统(7、8、9、13、15、16)和测量系统(10、11、12、13、14)组成的,测量系统(10、11、12、13、14)安装在抛光系统(7、8、9、13、15、16)中的被加工件(8)的后面,在测量系统中,反射镜(10)、转轴(11)、弯脚(12)三者构成光杠杆,反射镜(10)在转轴(11)的上方,镜面与轴向平行,弯脚(12)在转轴(11)的下方,弯脚(12)的面与轴向平行,弯脚(12)下部的弯脚面与液膜(13)的表面平行并浮在液膜(13)的表面上,位于转轴(11)上方的反射镜(10)与位于转轴(11)下方的弯脚(12)的面之间形成的夹角大于120°小于180°,平行光管(14)的光轴垂直于反射镜(10)的反射面。

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