[其他]狭缝X射线照像装置在审

专利信息
申请号: 101985000006558 申请日: 1985-08-31
公开(公告)号: CN1003819B 公开(公告)日: 1989-04-05
发明(设计)人: 西蒙·杜英克;雨果·夫拉斯布劳姆 申请(专利权)人: 老代尔夫特光学工业有限公司
主分类号: 分类号:
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利代理部 代理人: 张卫民
地址: 荷兰.代尔夫特*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 狭缝 射线 装置
【权利要求书】:

1、一种狭缝X射线照像装置,包括一个X射线源,利用该X射线源可以使通过一个狭缝光阑的一束基本上为平面扇形的X射线对一个接受辐射的物体进行扫描,穿过该物体的扫描X射线束照射到一个X射线检测器上,其特征在于:

该装置包括与狭缝光阑协同动作的多个可控衰减元件,每一元件在由一个辐射检测装置产生的信号的控制下被用于影响扫描X射线束的一个部分;

该辐射检测装置被安置在接受辐射的物体和X射线检测器之间;

该辐射检测装置包括至少一个辐射检测器,该辐射检测器在任何时刻都探伸到穿过物体的扫描X射线束之中并与X射线束的扫描运动进行同步运动,该辐射检测装置被分隔为多个部分,以便对应于可受衰减元件影响的扫描X射线束的各个部分,同时,在工作时,该辐射检测装置的每一部分都产生一个可用于控制衰减元件的信号。

2、根据权利要求1的装置,其特征在于:该辐射检测器包括一个X射线荧光屏,并且其辐射检测装置另外包括置于扫描X射线束范围之外的多个并行排列的透镜,每一透镜用于收集在扫描X射线束的作用下X射线荧光屏的一个给定部分上产生的光线,并将上述光线引向一个附属的光检测器,将光信号转换为电信号。

3、根据权利要求2的装置,其特征在于:其X射线荧光屏被分成多个并行排列并且相互隔离的部分。

4、根据权利要求2的装置,其特征在于:其X射线荧光屏以锐角伸入扫描X射线束。

5、根据权利要求1的装置,其特征在于:其辐射检测器包括多个并行排列的发光晶体元件,每一个元件的处于扫描X射线束以外的一面与产生电信号的光检测器进行光耦合。

6、根据权利要求5的装置,其特征在于:每一发光晶体元件在除了与光检测器耦合的部分外的全部外表面都涂有向内侧的反射层。

7、根据权利要求1的装置,其特征在于:其辐射检测器包括多个并行排列的电离室,每个电离室具有两个彼此相对的电极。在工作时电极导通电流,从中导出用于衰减元件的控制信号。

8、根据权利要求7的装置,其特征在于:其多个电离室结合成一个长条形电离室,该电离室具有多个分离安置的第一电极和一个共用的第二电极。

9、根据权利要求8的装置,其特征在于:在长条形的电离室内每一对相邻的第一电极之间安置了一个隔离件。

10、根据权利要求9的装置,其特征在于:各个隔离件中,每一个都指向X射线源的焦点。

11、根据权利要求1的装置,其特征在于:其辐射检测装置固定在一个臂上,该臂由狭缝光阑向X射线探测器方向伸展并超过接受辐射的物体,上述臂能够相对于一条通过X射线源焦点并垂直图面的直线而旋转,并且上述臂在其靠近X射线检测器的一端装有一个带有辐检测器的附加臂。

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