[发明专利]测量荧光或冷光发射衰变的集成光电子系统无效
| 申请号： | 200510105859.X | 申请日： | 2005-09-29 |
| 公开（公告）号： | CN1793861A | 公开（公告）日： | 2006-06-28 |
| 发明（设计）人： | 朱利恩·富凯;伊安·哈蒂卡斯特勒;若恩·P·赫宾;安妮特·C·格罗特;约翰·弗朗西斯·派特瑞拉 | 申请（专利权）人： | 安捷伦科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/64 | 分类号： | G01N21/64 |
| 代理公司： | 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 | 代理人： | 王怡 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 测量 荧光 冷光 发射 衰变 集成 光电 子系统 | ||
【权利要求书】：
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