[发明专利]通过将发光小片元件直接聚焦到容器上的容器检查

权利要求书

1.用于光学检查容器的设备，其包括：

光源(14)，用于接收由所述光源照亮的容器被选部分的图像的光学传感器(24)，以及被耦合到所述光学传感器的信息处理器(28)，用于根据在所述传感器处接收到的所述图像来检测容器被照亮部分中的商品差异，

其特征在于，所述光源包括至少一个具有发光小片表面(18)的发光二极管(16)，并且所述系统包括用于将所述发光小片表面聚焦到所述容器被选部分上的装置(20或43)。

2.如权利要求1所述的设备，其中，所述光源包括多个所述发光二极管(16)，每个发光二极管(16)都具有发光小片表面(18)，并且其中，所述装置(20或43)将所有所述发光二极管的发光小片表面聚焦到所述容器被选部分上。

3.如权利要求2所述的设备，其中，所述装置(20或43)是这样的，以致所述发光小片表面的至少一些图像在所述容器被选部分处重叠。

4.如权利要求2所述的设备，其中，所述装置(20或43)是这样的，以致至少一些所述发光小片表面的图像在所述容器被选部分处彼此相邻。

5.一种检查容器的方法，其包括以下步骤：

(a)提供包括至少一个具有发光小片表面(18)的发光二极管(16)的光源(14)，该发光小片表面(18)能直接从所述二极管的外部来成像，

(b)将所述发光小片表面直接聚焦到容器被选部分上，

(c)将容器的所述部分的图像指引到光学传感器(24)上，以及

(d)根据所述图像检测容器的商品差异。

6.如权利要求5所述的方法，其中，所述步骤(a)包括提供多个所述发光二极管(16)，并且其中，所述步骤(b)包括将所述多个发光二极管的发光小片表面直接聚焦到所述容器被选部分上。

7.如权利要求6所述的方法，其中，所述步骤(b)是这样的，以致所述发光小片表面的至少一些图像在所述容器被选部分处重叠。

8.如权利要求6所述的方法，其中，所述步骤(b)是这样的，以致所述发光小片表面的至少一些图像在所述容器被选部分处彼此相邻。