[发明专利]NVM芯片测试系统及测试方法

权利要求书

1.一种NVM芯片测试系统，其特征在于，包括依次连接并进行信号传输的测试仪、选通测试通道的多通道选择控制器以及探针台。

2.，如权利要求1所述的NVM芯片测试系统，其特征在于，选通测试通道的多通道选择控制器包括多个继电器。

3.一种利用权利要求1所述的NVM芯片测试系统的NVM芯片测试方法，其特征在于，包括以下步骤：

第一步，通过多通道选择控制器选择测试通道；

第二步，连接第一步中多通道选择控制器选择的测试通道和探针；

第三步，修改测试程序中自动分配测试资源的文件，使测试仪和探针台能自动通讯；

第四步，NVM芯片测试系统对所测试的NVM芯片进行芯片测试流程一的测试，并通过单个管脚的结果来判断芯片的正常或异常；

第五步，测试仪根据第四步中每个测试通道上的芯片正常或异常的信息决定需要断开的测试异常芯片的通道，并将该信息通过测试程序保存在测试程序中的数组内；

第六步，根据第四步的测试结果和第五步中测试仪决定需要断开的通道，测试仪按顺序闭合多通道选择器上的通道；

第七步，测试仪通过闭合的通道选通特定的对象芯片，将测试结果写入芯片的NVM区域；

第八步，测试仪生成芯片测试结果分类信息，并将该分类信息保存在芯片的NVM区域；

第九步，测试仪读取芯片中的芯片测试结果分类信息，确认芯片测试流程一的测试结果；

第十步，进行芯片测试流程二测试；

第十一步，NVM芯片测试系统确定芯片是否正常。

4.如权利要求3所述的一种NVM芯片测试方法，其特征在于，所述的第六步中测试仪按同测芯片的序号顺序闭合多通道选择器上的通道。