[发明专利]固体电解电容器的检查装置及检查方法

说明书

技术领域

本发明涉及固体电解电容器的检查装置和使用此检查装置的检查方法，所述固体电解电容器的检查装置主要适于测定各种电子设备中所使用的固体电解电容器的各特性中的等效串联电感。

背景技术

随着电子设备的高频化趋势，人们寻求优于现有的在高频率范围内具有优良阻抗特性的电容器。为了符合此要求，已开发出了将高导电率的导电高分子材料用作固体电解质的固体电解电容器。

此外，近年来，人们强烈要求用于个人电脑的微处理器(CPU)的周边等的固体电解电容器体积小且容量大。并且，为了适应高频化，人们除了强烈要求降低等效串联电阻(ESR)之外，还要求降低等效串联电感(ESL)。此外，人们希望电容器能降低噪声且瞬态响应性优良。为了满足所述要求，已进行了各种研究。

固体电解电容器特别是用在电源电路和数字电路等电路中，这些电路要求高频范围内的阻抗较低。为了检查所述固体电解电容器，并更精确地测定阻抗，已提出使用如下所述的检查装置。

图13是表示用来测定固体电解电容器的阻抗的现有检查装置的概念图。由虚线包围的部分是简化表示的阻抗测量器50。阻抗测量器50包括交流电源51、限流电阻器52、对流入电容器54的电流进行检测的电流检测器53、电压检测器55、电流端子56、57、和电压端子58、59。

当测定阻抗时，使电流探头60、61和电压探头62、63与作为被测定物的电容器54的电极接触，以测定电容器54的阻抗。在从电流端子56导出的引线端64与电流探头60之间连接着电阻器65，在从电压端子58导出的引线端66与电压探头62之间连接着电阻器67。在引线端64与引线端66之间连接着检测电阻器68。同样，在电流探头61与引线端69之间连接着电阻器70，在电压探头63与引线端71之间连接着电阻器72，在引线端69与引线端71之间连接着检测电阻器73。优选检测电阻器68、73的电阻值(10Ω～100Ω)为充分大于探头60～63的接触电阻的值，但也可以省去检测电阻器68、73。

图14是图13的阻抗检查装置的等效电路图，图中由虚线所包围的部分是简化表示的阻抗测量器50。电容器54具有静电电容54A和等效串联电阻54B。另外，固有电阻65A和电感元件74通过电阻器65存在于电流探头60与引线端64之间。同样，固有电阻70A与电感元件75通过电阻器70存在于电流探头61与引线端69之间。固有电阻67A和电感元件76通过电阻器67存在于电压探头62与引线端66之间。固有电阻72A和电感元件77通过电阻器72存在于电压探头63与引线端71之间。

在所述状态下，以如下方式测定电容器54的阻抗。首先，在尚未配置电容器54的状态下进行断路校正和短路校正。之后，使电流探头60、61和电压探头62、63与电容器54两端的电极接触，使电流从交流电源51流入到电流探头60、61之间。接着，通过电压探头62、63，用电压检测器55来检测在电容器54两端产生的电压。利用电压检测器55和电流检测器53来检测此时的电流(I)与电压(V)，并根据公式Z＝V/I来计算阻抗Z。

电流探头60、61和电压探头62、63与电容器54的电极接触。因此，在等效电路上，各探头60～63中存在的固有电阻65A、70A、67A、72A及电感元件74、75、76、77被校正而成为0。由此，阻抗测量器50可以准确地测定阻抗。此种阻抗检查装置例如在日本专利特开2001-35759号公报中被公开。

所述现有检查装置的目的在于，在极短的时间内，对生产线上的作为被测定物的电容器54的阻抗进行测定。因此，可以利用此测定结果来求出电容器的ESL。然而，其测定的精度低，不适于测定预期ESL较低的固体电解电容器的阻抗。

发明内容

本发明提供可以在极短时间内精确地测定固体电解电容器的ESL特性的固体电解电容器的检查装置以及使用此检查装置的检查方法。本发明的电容器的检查装置包括：由绝缘材料构成的基板、第一导电部与第二导电部、网络分析器、信号输入部、信号输出部、和加压部。第一导电部与第二导电部按照导电图案设置在基板上。第一导电部与电容器的阳极接触，第二导电部与电容器的阴极接触。网络分析器具有输入端口与输出端口。信号输入部安装在基板上并与输入端口连接。信号输出部安装在基板上并与输出端口连接。加压部将电容器的阳极按压到第一导电部，并将电容器的阴极按压到第二导电部。本发明的固体电解电容器的检查装置的结构简单，可以在极短时间内精确地测定固体电解电容器的ESL，而不会产生不必要的电阻等阻抗。