[发明专利]多芯片模块及制造方法有效
申请号: | 200680015142.9 | 申请日: | 2006-04-26 |
公开(公告)号: | CN101171683A | 公开(公告)日: | 2008-04-30 |
发明(设计)人: | Y·L·方;C·S·纪;L·H·李;M·S·宾阿布-哈桑 | 申请(专利权)人: | 斯班逊有限公司 |
主分类号: | H01L21/98 | 分类号: | H01L21/98;H01L25/065 |
代理公司: | 北京纪凯知识产权代理有限公司 | 代理人: | 戈泊 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 芯片 模块 制造 方法 | ||
1.一种用于制造多芯片模块(10)的方法,包括下列步骤:
提供具有第一主要表面(14)与第二主要表面(16)的支撑衬底(12),其中该支撑衬底(10)具有芯片接收区(38)与多个接合垫(18、20);
将第一半导体芯片(40)连接至该芯片接收区(38),该第一半导体芯片(40)具有多个接合垫(46);
将该第一半导体芯片(40)的该多个接合垫(46)中的第一接合垫(46A)连接至该支撑衬底(12)的该多个接合垫(18、20)中的第一接合垫(18A);
将间隔件(50)连接至该第一半导体芯片(40)的一部分;
将支撑材料(60)配置在该间隔件(50)或该第一半导体芯片(40)的至少其中之一上;
将第二半导体芯片(64)定位在该支撑材料(60)上,该第二半导体芯片(64)具有第一主要表面(68)与多个接合垫(70),其中定位该第二半导体芯片(64)的步骤在横向的方向挤压该支撑材料(60);以及
将该第二半导体芯片(64)的该多个接合垫(70)中的第一接合垫(70A)连接至该支撑衬底(12)的该多个接合垫(20)中的第二接合垫(20A)。
2.如权利要求1所述的方法,其中将该第二半导体芯片(64)的该多个接合垫(70)中的该第一接合垫(70A)连接至该支撑衬底(12)的该多个接合垫(18、20)中的该第二接合垫(20A)的步骤包括利用引线接合方式将该第二半导体芯片(64)的该多个接合垫(70)的该第一接合垫(70A)连接至该支撑衬底(12)的该多个接合垫(18、20)的该第二接合垫(20A),以及其中将该第一半导体芯片(40)的该多个接合垫(46)的该第一接合垫(46A)连接至该支撑衬底(12)的该多个接合垫(18、20)的该第一接合垫(18A)的步骤包括利用引线接合方式将该第一半导体芯片(40)的该多个接合垫(46)的该第一接合垫(46A)连接至该支撑衬底(12)的该多个接合垫(18、20)的该第一接合垫(18A)。
3.如权利要求1所述的方法,其中将该第二半导体芯片(64)定位在该支撑材料(60)上的步骤包括促使该支撑材料(60)覆盖在该间隔件(50)的第一边缘(53)与第二边缘(55)上。
4.如权利要求1所述的方法,其中配置该支撑材料(60)的步骤包括将该支撑材料(60)配置在该间隔件(50)上。
5.如权利要求1所述的方法,其中该间隔件(50)包括具有第一与第二主要表面与至少一个接合垫的第三半导体芯片。
6.一种用于制造多芯片模块(10)的方法,包括下列步骤:
提供具有第一半导体芯片(40)的支撑衬底(12),其中该第一半导体芯片(40)接置在该支撑衬底(12)的芯片接收区(38),该支撑衬底(12)具有多个接合垫(18、20),且该第一半导体芯片(40)具有多个接合垫(46);
将间隔件(50)连接至该第一半导体芯片(40),该间隔件(50)具有第一边缘(53)与相对的第二边缘(55);
将支撑材料(60)配置在该间隔件(50)或该第一半导体芯片(64)的其中之一上;以及
将第二半导体芯片(64)连接至该间隔件(50),以使该支撑材料(60)被横向推动至该第一半导体芯片(40)与该第二半导体芯片(64)之间,从而对该第二半导体芯片(64)提供支撑。
7.如权利要求6所述的方法,其中将该支撑材料(60)配置在该间隔件(50)或该第一半导体芯片(40)的其中之一上的步骤包括将该支撑材料(60)配置在该第一半导体芯片(46)上,以及其中将该第二半导体芯片(64)连接至该间隔件(50)的步骤包括横向地推动该支撑材料(60),以使该支撑材料(60)定位在该第一半导体芯片(40)与该第二半导体芯片(64)之间。
8.如权利要求6所述的方法,其中将该第二半导体芯片(64)连接至该间隔件(50)的步骤包括使用胶黏剂膜将该第二半导体芯片(64)连接至该间隔件(50)。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
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