[发明专利]MOSFET功率封装无效

专利信息
申请号: 200710089675.8 申请日: 2007-03-26
公开(公告)号: CN101064300A 公开(公告)日: 2007-10-31
发明(设计)人: 李文清;骆建仁;龚德梅 申请(专利权)人: 万国半导体股份有限公司
主分类号: H01L25/00 分类号: H01L25/00;H01L25/07;H01L23/488;H01L23/495
代理公司: 上海新天专利代理有限公司 代理人: 张静洁
地址: 百慕大哈密尔*** 国省代码: 百慕大群岛;BM
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摘要:
搜索关键词: mosfet 功率 封装
【权利要求书】:

1、一种功率MOSFET封装,其包括:

一个引线框架,所述引线框架的第一和第二模垫片相互绝缘,且所述第一模垫片与第一漏引线、所述第二模垫片与第二漏引线连接;

一个第一MOSFET器件,所述第一MOSFET器件的漏接触与所述第一模垫片连接,栅接触与第一栅引线连接,源接触与所述第二模垫片连接;

一个第二MOSFET器件,所述第二MOSFET器件的漏接触与所述第二模垫片连接,栅接触与第二栅引线连接,源接触与源引线连接;和

一种密封剂,所述密封剂基本上将所述引线框架、所述第一和第二MOSFET器件、部分所述第一和第二栅引线、所述第一和第二漏引线以及所述源引线密封。

2、根据权利要求1所述的功率MOSFET封装,其特征在于,所述封装是TO-252封装。

3、根据权利要求1所述的功率MOSFET封装,其特征在于,所述封装工作时可为同步电压转换器电路提供电源和同步转接。

4、一种为同步电压转换器电路提供电源和同步转接的功率MOSFET封装,其包括:

一个引线框架,所述引线框架的第一和第二模垫片相互绝缘,且所述第一模垫片与第一漏引线、所述第二模垫片与第二漏引线连接;

一个第一MOSFET器件,所述第一MOSFET器件的漏接触与所述第一模垫片连接,栅接触与第一栅引线连接,源接触与所述第二模垫片连接;

一个第二MOSFET器件,所述第二MOSFET器件的漏接触与所述第二模垫片连接,栅接触与第二栅引线连接,源接触与源引线连接;和

一种密封剂,所述密封剂基本上将所述引线框架、所述第一和第二MOSFET器件、部分所述第一和第二栅引线、所述第一和第二漏引线以及所述源引线密封。

5、根据权利要求4所述的功率MOSFET封装,其特征在于,所述封装是TO-252封装。

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