[发明专利]测量装置有效

专利信息
申请号: 200710108988.3 申请日: 2007-06-11
公开(公告)号: CN101324524A 公开(公告)日: 2008-12-17
发明(设计)人: 张志祥;潘信宏;李君浩;萧智鸿 申请(专利权)人: 财团法人工业技术研究院
主分类号: G01N21/59 分类号: G01N21/59
代理公司: 北京纪凯知识产权代理有限公司 代理人: 程伟
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 测量 装置
【权利要求书】:

1.一种测量装置,用以测量基材的透气率,该测量装置至少包括:

发光元件,用以产生光源;

检测元件,用以接收光线,并从而取得该光线的透光变化量;

透镜组件,配置于该发光元件与该检测件的光路间,用以接收该光源及投射光线至该检测元件,且具有一个以上用以调整焦距的透镜;

载件,配置于该透镜组件的透镜间,用以设置该基材,并使光线可穿透该基材与该载件,使该检测元件接收、计算经由该载件入射的光线;以及

受力件,配置于该透镜组件的透镜与该载件间,用以提供一应力,并使该基材受到该应力并依据该载件的曲率半径而弯曲。

2.根据权利要求1所述的测量装置,还包括计算器,用以利用该光线的透光变化量计算该基材的透气率光变化量的透光率。

3.根据权利要求2所述的测量装置,其中,该计算器为电脑。

4.根据权利要求1所述的测量装置,其中,该发光元件选自具稳定光通量输出特性的卤素灯及发光二极管的其中之一。

5.根据权利要求1所述的测量装置,其中,该透镜组件是选自凹透镜、凸透镜及其二者的透镜组合的其中之一。

6.根据权利要求5所述的测量装置,其中,该凹透镜包括双凹透镜。

7.根据权利要求5所述的测量装置,其中,该凸透镜包括双凸透镜。

8.根据权利要求1所述的测量装置,其中,该基材通过选自机械力、物理作用力及化学作用力的其中之一设置于该载件上。

9.根据权利要求8所述的测量装置,其中,该基材包括金属材料及阻挡材料。

10.根据权利要求9所述的测量装置,其中,该金属材料选自钙、钡及铝的其中之一。

11.根据权利要求9所述的测量装置,其中,该阻挡材料选自无机材料、有机材料、及无机材料与有机材料的组合的其中之一。

12.根据权利要求1所述的测量装置,其中,该检测元件选自电荷耦合元件及光二极管检测器的其中之一。

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