[发明专利]一种探针测试卡无效
| 申请号： | 200710301313.0 | 申请日： | 2007-12-26 |
| 公开（公告）号： | CN101470135A | 公开（公告）日： | 2009-07-01 |
| 发明（设计）人： | 殷卫中;王政烈 | 申请（专利权）人： | 和舰科技（苏州）有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/073 | 分类号： | G01R1/073 |
| 代理公司： | 北京连和连知识产权代理有限公司 | 代理人： | 屈小春 |
| 地址： | 215025江苏省*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 探针 测试 | ||
【权利要求书】：
1.一种探针测试卡，其特征在于，在探针测试卡的两侧具有至少两排对应的探针，上述探针与探针测试卡的通道中接出的至少两条金属线相连。
2.根据权利要求1所述的探针测试卡，其特征在于，所述的金属线为铜线。
3.根据权利要求1或2所述的探针测试卡，其特征在于，该探针测试卡适用于测试长度为80μm以上，宽度为30μm以下的测试键。
4.根据权利要求3所述的探针测试卡，其特征在于，所述的测试键的窗口为斜面。
5.根据权利要求1所述的探针测试卡，其特征在于，上述探针为相互对称的两排。
6.根据权利要求5所述的探针测试卡，其特征在于，两个相邻探针在测试键上的针痕之间的间距一端为17μm以下，另一端为52μm以下。
7.根据权利要求6所述的探针测试卡，其特征在于，两个相邻探针在测试键上的针痕之间的间距一端为13μm～17μm，另一端为48μm～52μm。
8.根据权利要求7所述的探针测试卡，其特征在于，两个相邻探针在测试键上的针痕之间的间距一端为15μm，另一端为50μm。
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