[发明专利]一种用于n型硅的透明导电阴极接触结构有效

专利信息
申请号: 200810239758.5 申请日: 2008-12-16
公开(公告)号: CN101436636A 公开(公告)日: 2009-05-20
发明(设计)人: 赵雷;王文静 申请(专利权)人: 中国科学院电工研究所
主分类号: H01L33/00 分类号: H01L33/00;H01L31/0224
代理公司: 北京科迪生专利代理有限责任公司 代理人: 关 玲;贾玉忠
地址: 100080北*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 用于 透明 导电 阴极 接触 结构
【权利要求书】:

1.一种用于n型硅的透明导电阴极接触结构,其特征在于:在n型硅上是一层氟化锂层,然后在氟化锂层上是透明导电电极,所述的透明导电电极的功函数大于所述的n型硅的功函数。

2.根据权利要求1所述的用于n型硅的透明导电阴极接触结构,其特征在于:所述的氟化锂层的厚度在0.5-2nm之间。

3.根据权利要求1或2所述的用于n型硅的透明导电阴极接触结构,其特征在于:所述的n型硅是n型的单晶硅或多晶硅或薄膜硅。

4.根据权利要求3所述的用于n型硅的透明导电阴极接触结构,其特征在于:所述的薄膜硅是非晶硅或微晶硅或纳米晶硅。

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