[发明专利]信息记录介质、记录/再现设备和记录/再现方法有效
申请号: | 200880124484.3 | 申请日: | 2008-06-30 |
公开(公告)号: | CN101911189A | 公开(公告)日: | 2010-12-08 |
发明(设计)人: | 权埈焕;李坰根;黄盛凞 | 申请(专利权)人: | 三星电子株式会社 |
主分类号: | G11B7/007 | 分类号: | G11B7/007 |
代理公司: | 北京铭硕知识产权代理有限公司 11286 | 代理人: | 郭鸿禧;王青芝 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 韩国;KR |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 信息 记录 介质 再现 设备 方法 | ||
技术领域
本发明的各方面涉及一种信息记录介质、一种记录和/或再现设备以及一种记录和/或再现方法,所述方法使得记录在实现逻辑盖写的介质上的信息能够被更加有效地再现。
背景技术
高密度光盘(诸如蓝光盘(BD)和高清晰度数字通用盘(HD DVD))已经被研发出来并开始在市场上流通。对于这种光盘,已经尝试了用于增加光盘的容量的各种方法,例如,通过使用单波光源并在一个盘中堆叠多个记录和/或再现层来减少轨道间隔和凹坑。可以从致密盘(CD)、数字通用盘(DVD)、HD DVD和BD的发展看出所述尝试。除了用于增加光盘的容量的方法之外,在可记录BD(BD-R)盘的情况下,已经建议将逻辑盖写方法作为在相同的逻辑地址重写BD-R盘的数据的方法,以便更加方便地使用BD-R一次写入式盘。这种方法的缺点在于:由于更多的逻辑盖写操作被执行,所以数据的碎片增加,指示盖写的区域的数据量以及用于替换盖写的区域的区域也增加。因此,增加了数据访问时间。
图1A是示出典型的单层光盘的逻辑结构的示图。参照图1A,单层光盘包括内部带(inner zone)110、数据带(data zone)120和外部带(outer zone)130的排列。内部带110包括导入区111;数据带120包括内部备用区121、用户数据区122和外部备用区123;外部带130包括导出区131。根据对于单层光盘是否采用缺陷管理来确定内部备用区121和外部备用区123的分配。如果采用缺陷管理,则在上述备用区中记录用于替换缺陷数据的替换数据。
图1B是示出典型的双层光盘的逻辑结构的示图。参照图1B,双层光盘包括记录层0和记录层1。记录层0包括内部带0(140)、数据带0(150)和外部带0(160)的排列。内部带0(140)包括导入区141,数据带0150包括内部备用区0(151)、用户数据区0(152)和外部备用区0(153)。记录层1包括内部带1(170)、数据带1(180)和外部带1(190)的排列。内部带1(170)包括导出区171,数据带1(180)包括内部备用区1(181)、用户数据区1(182)和外部备用区1(183)。
现将描述在一次性写入式盘中的逻辑盖写。由于介质(例如,一次性写入式盘)的特性,无法在一次性写入式盘中对写入的区域进行物理上的盖写。然而,可实现数据看起来像是盖写在已经记录有数据的一部分一次性写入式盘上的技术。上述技术称为逻辑盖写。
图2是示出根据典型的技术分配三个轨道的一次性写入式盘的示图。可在盘划分为多个轨道之后使用所述盘,图2示出用户数据区122被划分为标号为1、2、3的三个轨道,并且数据被记录在轨道1的一部分以及轨道2的一部分中。在图2中,NWA指示下一可写入地址。在轨道1中,下一可写入地址被标记为NWA1。
图3A是示出以下典型技术的示图,其中,通过在轨道的未记录区域中分配替换区来在所述轨道中执行逻辑盖写。参照图3A,如果接收到在地址小于或低于轨道1的地址NWA1的区域(即,在已经记录有数据的区域(A)中)写入数据的请求,则将区域(A)注册为缺陷列表中的缺陷区域,或者,将区域(A)注册为单独的盖写列表中的缺陷区域。然后,区域(A)的数据被记录在从NWA1开始的区域(B)中。
图3B是示出以下典型技术的示图,其中,通过在与轨道分离的内部备用区121中分配替换区来在所述轨道中执行逻辑盖写。参照图3B,如果接收到在地址小于或低于轨道1的地址NWA1的区域(即,在已经记录有数据的区域(A)中)写入数据的请求,则将区域(A)注册为缺陷列表中的缺陷区域,或者,将区域(A)注册为单独的盖写列表中的缺陷区域。然后,区域(A)的数据被记录在内部备用区121的预定区域(B)中。
在按照上述方式执行逻辑盖写操作的盘中,再现设备参考缺陷列表或盖写列表,改为从替换区再现数据,所述数据本应从在列表中注册为缺陷区域的区域再现。缺陷列表或盖写列表被存储在导入区或单独的系统区域中。
图4A是示出缺陷列表的典型示例的示图,图4B是示出盖写列表的典型示例的示图。缺陷列表的第一条目指示用于替换记录在缺陷地址100h的数据的替换数据被记录在替换地址200000h。缺陷列表的第二条目指示用于替换记录在缺陷地址230h的数据的替换数据被记录在替换地址200001h,并且缺陷列表的第三条目指示用于替换记录在缺陷地址440h的数据的替换数据被记录在替换地址200002h。图4B示出的每个条目与图4A所示的相同,只是列表的名称彼此不同。
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