[发明专利]基于双电阻校准和麦夸尔特法的EMI内阻抗测量方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种EMI内阻抗测量方法，具体说是一种基于双电阻校准和麦夸 尔特法的EMI内阻抗测量方法，属于电磁兼容技术领域。

技术背景

目前，光伏发电、风能发电、航空电源、开关磁阻电机、电动汽车、高速动 车组、城市轨道交通等产生的电磁兼容问题越来越复杂，从而严重的影响社会经 济发展。因此，为了尽量降低电磁干扰噪声，节省开关时间，节约开发成本，加 快新能源发展进程，同时也为产品通过质量检测部门的检验做好前期准备，必须 设计合适的EMI滤波器。然而，由于噪声源内阻抗的不确定性，因此在设计EMI 滤波器前，对噪声源进行内阻抗测定是必不可少的。

噪声源内阻抗测定方法包括插入损耗法、单电流探头法和双电流探头法，如 ZL 200610098038.2、CN1996030、CN101082655、CN101093235所保护的噪声源内 阻抗测定方法。然而，插入损耗法、单电流探头法和双电流探头法精度较低且无 法获取阻抗的相位，另一方面，上述三种方法对被测产品的噪声源内阻抗依赖性 较大，即三种方法提出的简化计算模型均与被测产品的噪声源内阻抗有关，但在 实际中，被测产品的噪声源内阻抗基本特性无法获知。可见，为了提高噪声源内 阻抗测定精度，同时获取内阻抗(复阻抗)的幅值与相位，并解决简化计算模型 中存在的不确定性，有必要设计一个简单、高效的噪声源内阻抗测定方法。

发明内容

本发明所要解决的技术问题，在于克服现有技术存在的缺陷，提出了一种基 于双电阻校准和麦夸尔特法的EMI内阻抗测量方法。通过使用两个电流探头，从 而获取被测产品的EMI内阻抗，并采用麦夸尔特法对测得的EMI内阻抗幅频特性 进行处理，最终得到被测产品的EMI内阻抗(复阻抗)，包括幅值与相位，从而为 EMI滤波器的设计提供充分的理论依据。本发明中所有阻抗均为复阻抗，包括幅 值与相位，缺一不可。

本发明为一种基于双电阻校准和麦夸尔特法的EMI内阻抗测量方法，其步骤 是：

第一步：将被测产品(其EMI内阻抗为Z_X)、标准电阻(Z_STD)用线缆串联成 闭合线路，连接频谱分析仪的检测探头和连接信号源的注入探头套在线缆上；

第二步：根据第一步，在闭合线路中，移去被测产品和标准电阻(即线缆自 身闭合)，打开信号源使其输出电压信号V_sig至注入探头，连接检测探头的频谱分 析仪得到相应的测量结果，记为V_p0；

第三步：根据第一步，在闭合线路中，移去被测产品(其EMI内阻抗为Z_X)， 并采用标准电阻1(Z_STD1)作为标准电阻，打开信号源使其输出电压信号V_sig至注 入探头，连接检测探头的频谱分析仪得到相应的测量结果，记为V_p1；

第四步：根据第一步，在闭合线路中，移去被测产品(其EMI内阻抗为Z_X)， 并采用标准电阻2(Z_STD2)作为标准电阻，打开信号源使其输出电压信号V_sig至注 入探头，连接检测探头的频谱分析仪得到相应的测量结果，记为V_p2；

第五步：根据第一步，在闭合线路中，保留被测产品(其EMI内阻抗为Z_X)， 并移去标准电阻，打开信号源使其输出电压信号V_sig至注入探头，连接检测探头 的频谱分析仪得到相应的测量结果，记为V_px0；

第六步：根据第一步，在闭合线路中，保留被测产品(其EMI内阻抗为Z_X)， 并采用标准电阻1(Z_STD1)作为标准电阻，打开信号源使其输出电压信号V_sig至注 入探头，连接检测探头的频谱分析仪得到相应的测量结果，记为V_px1；

第七步：根据第一步，在闭合线路中，保留被测产品(其EMI内阻抗为Z_X)， 并采用标准电阻2(Z_STD2)作为标准电阻，打开信号源使其输出电压信号V_sig至注 入探头，连接检测探头的频谱分析仪得到相应的测量结果，记为V_px2；