[实用新型]激光粒度仪的小样品自动供样系统无效
申请号: | 200920071834.6 | 申请日: | 2009-05-08 |
公开(公告)号: | CN201397284Y | 公开(公告)日: | 2010-02-03 |
发明(设计)人: | 李广田;谢超凡;沈鸣之;陈岚;王芳芳 | 申请(专利权)人: | 上海理工大学 |
主分类号: | G01N15/02 | 分类号: | G01N15/02 |
代理公司: | 上海申汇专利代理有限公司 | 代理人: | 吴宝根 |
地址: | 200093*** | 国省代码: | 上海;31 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 激光 粒度 样品 自动 系统 | ||
技术领域
本实用新型涉及一种测试系统,特别涉及一种实验室小样品颗粒的粒度及分布的测试系统。
背景技术
采用激光进行颗粒粒度测量的原理是将分散均匀的颗粒悬浮液装入样品池,利用颗粒对激光的散射现象,根据散射光能的分布推算出被测颗粒的粒度及分布。目前,激光粒度仪的供样系统有两大特点:一、只有一个盛样池的循环系统。采用激光粒度仪进行湿法测量颗粒粒度及分布之前,背景测试是必不可少的,以消除由于选用不同的分散介质而引起的差异。粒度测试时,将待测样品加入盛样池,分散介质的加入、样品的分散、样品池的进样、系统采样以及样品池的清洗都是在手动按钮或全自动控制下进行,但是,在很多情况下,直接将样品加入盛样池,短时间内利用激光粒度仪自身的搅拌及超声分散是不可能的,因为有些样品要经过数小时的搅拌及超声才能分散均匀,得到稳定的悬浊液,所以一般的做法是将预先分散好的样品直接进行测试,避免利用激光粒度仪直接分散。当样品数比较多时,利用这种供样系统逐一供样、采样及清洗,大大增加了工作人员的操作量,同时也降低了测试的效率;二、测试对象主要以大剂量样品的悬浊液为主,当进行一些实验室纳米医药及材料等的研究时,样品量一般都比较少,采用这种供样系统不易进行精确的测试及数据采集。
发明内容
本实用新型是针对现在激光粒度仪供样系统的工作效率低和小样品的测试能力差的问题,提出了一种激光粒度仪的小样品自动供样系统,每批可依次自动进行四种样品测量,提高测试效率。
本实用新型的技术方案为:一种激光粒度仪的小样品自动供样系统,包括样品池、背景池、数个盛样池、控制部分,还包括数个电磁阀、蠕动泵、叶轮泵、清洗池、超声水浴,数个盛样池置于超声水浴中,背景池和每个盛样池上下分别有成对的进、出口电磁阀,数个盛样池和背景池的进口电磁阀一头通过叶轮泵和清洗池电磁阀连接清洗池出口端,另一头连接样品池的出口,数个盛样池和背景池的出口电磁阀一头通过清洗池第二电磁阀连接清洗池另一出口端,另一头通过蠕动泵与样品池的进口连接,样品池的进口同时连接出样电磁阀,控制部分控制电磁阀开关、蠕动泵和叶轮泵运行。
所述背景池和数个盛样池为嵌套的弧形上盖的圆柱形玻璃器皿,底部的出口端和上盖的顶部出口端都通过橡胶管与进出口电磁阀的另一头相连。
所述清洗池为圆柱形的玻璃器皿,两个出口端都在清洗池底部。
本实用新型的有益效果在于:本实用新型激光粒度仪的小样品自动供样系统,在被测样品数比较多、样品量比较少的情况下,可以每四个样品一组依次进行测量,在预先设置好每步骤参数后,背景测试、样品测试以及系统清洗等过程都可自动完成。整个测试过程操作简单,大大避免了过多繁琐的人工操作,采用蠕动泵可以防止样品交叉污染。
附图说明
图1为本实用新型激光粒度仪的小样品自动供样系统结构示意图;
图2是本实用新型激光粒度仪的小样品自动供样系统背景测试时的结构循环图;
图3是本实用新型激光粒度仪的小样品自动供样系统样品池的清洗循环图;
图4是本实用新型激光粒度仪的小样品自动供样系统的控制流程图。
具体实施方式
如图1所示结构示意图,激光粒度仪的小样品自动供样系统包括样品池1,出样电磁阀2,电磁阀3、3A、4、4A、5、5A、6、6A、7、7A、清洗池第一电磁阀8、清洗池第二电磁阀8A,蠕动泵9,叶轮泵10,背景池11,四个盛样池12A、12B、12C、12D,清洗池13,超声水浴14。背景池11上下分别有成对的进出口电磁阀3、3A,盛样池12A上下分别有成对的进出口电磁阀4、4A,盛样池12B上下分别有成对的进出口电磁阀5、5A,盛样池12C上下分别有成对的进出口电磁阀6、6A,盛样池12D上下分别有成对的进出口电磁阀7、7A,四个盛样池12A、12B、12C、12D置于超声水浴14中,四个盛样池和背景池的进口一头通过叶轮泵10和电磁阀8连接清洗池13,另一头连接样品池1的出口,四个盛样池和背景池的出口一头通过电磁阀8A连接清洗池13,另一头通过蠕动泵9与样品池1的进口连接,样品池1的进口同时连接出样电磁阀2。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海理工大学,未经上海理工大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200920071834.6/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种等高垫件
- 下一篇:一种利用刨床加工圆弧面的加工装置