[实用新型]抗冲击测试装置无效
申请号: | 200920071895.2 | 申请日: | 2009-05-08 |
公开(公告)号: | CN201397227Y | 公开(公告)日: | 2010-02-03 |
发明(设计)人: | 杨长泉 | 申请(专利权)人: | 上海晨兴希姆通电子科技有限公司 |
主分类号: | G01M7/08 | 分类号: | G01M7/08;G01N3/303 |
代理公司: | 上海智信专利代理有限公司 | 代理人: | 薛 琦;朱水平 |
地址: | 201700*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 冲击 测试 装置 | ||
1、一种抗冲击测试装置,其特征在于,其包括一冲击轨道,垂直该冲击轨道中轴线方向设有若干通孔;一阻挡件,该阻挡件插设于该通孔中;一用于支撑该冲击轨道的支架。
2、根据权利要求1所述的抗冲击测试装置,其特征在于,该抗冲击测试装置还包括一用于放置样品的冲击平台,该冲击平台为中空。
3、根据权利要求2所述的抗冲击测试装置,其特征在于,该冲击平台顶面的四周设有一台阶。
4、根据权利要求1所述的抗冲击测试装置,其特征在于,该冲击轨道为管状。
5、根据权利要求1所述的抗冲击测试装置,其特征在于,该通孔为等间距设置。
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