[发明专利]可编程数字逻辑单元的本地校准

权利要求书

1.一种用于校准包括至少一个可编程数字逻辑单元的集成电路的方法，所述可编程数字逻辑单元提供多个不同的可访问的电路配置或包括电压水平控制器，所述方法包括：

利用参考装置测量可以影响所述可编程数字逻辑单元的处理速度的至少一个电气性能参数或可以影响所述电气性能参数的至少一个参数，以此获得校准数据；以及

基于所述校准数据对所述可编程数字逻辑单元进行编程，以选择所述多个不同的电路配置的第一个或由所述电压水平控制器输出的电压水平，其中所述编程改变所述可编程数字逻辑单元的所述处理速度。

2.根据权利要求1所述的方法，还包括使用所述校准数据产生至少一个控制信号，其中所述控制信号实现所述编程。

3.根据权利要求2所述的方法，还包括将所述校准数据与预定的限度或范围进行比较，并且当确定所述校准数据在所述预定的限度或范围之外时，产生所述控制信号以实现所述编程。

4.根据权利要求2所述的方法，其中通过使用查找表、线性函数或非线性函数来映射所述校准数据或从其导出的参数以获得所述控制信号，以此获得所述控制信号。

5.根据权利要求1所述的方法，其中在晶圆的晶圆测试期间执行所述测量和所述编程，所述晶圆包括所述集成电路和多个其他集成电路，并且其中所述晶圆包括所述参考装置。

6.根据权利要求5所述的方法，其中所述可编程数字逻辑单元包括第一专用数字逻辑单元、可编程调整电路和用于耦合或去耦的电路，所述第一专用数字逻辑单元包括多个节点，所述多个节点包括至少一个输入节点和反映数字逻辑功能的性能的至少一个输出节点，所述可编程调整电路包括至少一个调整输入和至少一个调整电路输出，所述用于耦合或去耦的电路将所述调整输入和所述调整电路输出中的至少一个耦合于或去耦于所述第一专用数字逻辑单元的所述多个节点中的至少一个，其中所述用于耦合或去耦的电路包括耦合于所述调整输入的第一熔丝或耦合于所述输出的第二熔丝；以及

其中所述编程包括施加能量以改变所述第一熔丝或所述第二熔丝的状态。

7.根据权利要求1所述的方法，还包括使用所述校准数据产生至少一个控制信号，并且在第一时间使用所述控制信号对所述可编程数字逻辑单元执行所述编程，并且在所述第一时间之后，在第二时间执行包括以下步骤的编程：再次测量所述校准数据以获得更新的校准数据，使用所述更新的校准数据产生至少一个更新的控制信号，并且使用更新的控制信号对所述可编程数字逻辑单元进行编程。

8.根据权利要求1所述的方法，其中所述参考装置包括延迟线，并且其中所述校准数据包括基于测试信号穿越所述延迟线的时间的时基测量值。

9.根据权利要求1所述的方法，其中所述参考装置包括与至少一个逻辑单元相关的振荡器电路，并且其中所述校准数据包括所述振荡器电路的振荡频率的测量值。

10.根据权利要求2所述的方法，其中所述参考装置包括匹配所述可编程逻辑单元的至少一个可编程参考数字逻辑单元，并且其中产生所述控制信号包括改变所述控制信号直到获得所述可编程参考数字逻辑单元的期望的响应的迭代处理。

11.根据权利要求2所述的方法，其中所述参考装置包括多个参考电路，所述多个参考电路各自形成在所述集成电路的多个分开部分中，并且所述至少一个控制信号包括多个控制信号，所述多个控制信号各自形成在所述集成电路的所述多个分开部分的相应部分中。

12.根据权利要求1所述的方法，其中可以影响所述电气性能参数的所述参数包括温度。

13.根据权利要求1所述的方法，其中对所述可编程数字逻辑单元进行所述编程包括选择所述电压水平输出。