[发明专利]一种测定焦炭光学组织用焦炭的炼制方法有效
| 申请号： | 201010112106.2 | 申请日： | 2010-02-09 |
| 公开（公告）号： | CN101793643A | 公开（公告）日： | 2010-08-04 |
| 发明（设计）人： | 张雪红;项茹;陈鹏;薛改凤;鲍俊芳;张前香;宋子逵;刘尚超 | 申请（专利权）人： | 武汉钢铁(集团)公司 |
| 主分类号： | G01N1/44 | 分类号： | G01N1/44;G01N21/00;C10B57/04 |
| 代理公司： | 湖北武汉永嘉专利代理有限公司 42102 | 代理人： | 段姣姣 |
| 地址： | 430080 湖北*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 测定 焦炭 光学 组织 炼制 方法 | ||
【权利要求书】：
1.一种测定焦炭光学组织用焦炭的炼制方法，其步骤：
1)沿火车皮对角线五点循环采集煤样；
2)按照《煤样的制备方法》缩分、破碎煤样，控制其粒度≤2.0毫米，并搅拌均匀；
3)将搅拌均匀的煤样置入坩埚内，并加压块于煤样表面，所加压块在煤样表面的覆盖率达到60％～82％，将坩埚盖盖严；经加压块后的煤样密度要求在0.7～0.9g/cm3；
4)将坩埚置入马弗炉中加热至950～1000℃，并在该温度下恒温1～2小时；
5)取出坩埚，并将其自然冷却至环境温度后取出压块；
6)将制得的焦块制片；
7)在偏反光显微镜下，用油浸物镜观测所制焦块的光学组织，放大倍数400～600倍。
2.如权利要求1所述的一种测定焦炭光学组织用焦炭的炼制方法，其特征在于：当所测煤样胶质层最大厚度即Y值≥21.0毫米时，装入坩埚内煤样的高度不超过坩埚高度的1/4。
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