[发明专利]触控系统及其触碰检测方法有效
申请号: | 201010169849.3 | 申请日: | 2010-05-12 |
公开(公告)号: | CN102033660A | 公开(公告)日: | 2011-04-27 |
发明(设计)人: | 高铭璨;郑信基 | 申请(专利权)人: | 原相科技股份有限公司 |
主分类号: | G06F3/042 | 分类号: | G06F3/042 |
代理公司: | 北京汇智英财专利代理事务所 11301 | 代理人: | 牟长林 |
地址: | 中国台湾新竹科学工业*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 系统 及其 检测 方法 | ||
技术领域
本发明涉及一种触控系统及其触碰检测方法,且特别涉及一种不会受鬼点的影响而能正确地判断出指示物的实际位置的触控系统及其触碰检测方法。
背景技术
图1为现有的一种触控系统(touch-control system)的立体图。请参照图1,此触控系统100用以检测指示物(pointer)102的位置。触控系统100除了包括有面板104、影像检测装置106、影像检测装置108及处理电路110之外,还包括有反光组件112、反光组件114及反光组件116。此外,标号118所指的矩形区域即是作为触控系统100的检测区域。处理电路110电耦接影像检测装置106与108,以依据这两个影像检测装置所检测到的指示物影像来计算出指示物102的位置。
图2为触控系统100进行单点触控的说明图。在图2中,标号与图1中的标号相同者表示为相同对象。如图2所示,影像检测装置106能沿着检测路线202检测到指示物102,而影像检测装置108则能沿着检测路线204检测到指示物102。因此,处理电路110只要能计算出检测路线202与204的交点,就能获得指示物102的位置。然而,触控系统100在进行多点触控的时候,就会出现问题,以图3来说明。
图3为触控系统100进行多点触控的说明图,其以二点触控为例。在图3中,标号与图1中的标号相同者表示为相同对象,而标号302与304所指皆表示为指示物。如图3所示,影像检测装置106能分别沿着检测路线202与312而检测到指示物302与304,而影像检测装置108则能分别沿着检测路线204与314而检测到指示物302与304。然而,由于处理电路110通过计算上述各检测路线的交点来获得指示物302与304的位置,因此在这样的情况下,处理电路110会认为标号306与308所指之处也有可能是指示物302与304所处的位置,也就是产生所谓的鬼点(ghost point)。因此,处理电路110会无法正确地判断出指示物302与304的实际位置。
发明内容
针对上述问题,本发明的目的就是提供一种触控系统,此触控系统不会受鬼点的影响而能正确地判断出指示物的实际位置。
本发明的再一目的是提供一种触碰检测方法,适用于前述的触控系统。
本发明提出一种触控系统,其包括有触控面板、第一影像检测装置、第二影像检测装置及处理电路。所述触控面板具有触控表面,且此触控面板采用一种触控检测结构,而此触控检测结构包括有多条平行设置的第一导线。第二影像检测装置及第一影像检测装置皆用以检测触控表面的影像。而处理电路电耦接上述第一导线、第一影像检测装置及第二影像检测装置。当有第一指示物与第二指示物触碰触控表面时,处理电路便通过上述第一导线取得这些指示物的一维坐标,以便作为第一检测结果,且处理电路还依据第一影像检测装置及第二影像检测装置所检测到的指示物影像来计算这些指示物的可能触碰位置,以便作为第二检测结果,并进一步取得第一检测结果及第二检测结果的交集,以将上述交集视为指示物的实际触碰位置。
在本发明的一实施例中,前述触控系统所采用的触控检测结构更包括有多条平行设置的第二导线,而这些第二导线垂直于前述第一导线,且当前述指示物触碰触控表面时,对应于这些指示物的触碰位置的第一导线及第二导线便电耦接,使得前述处理电路可通过上述第一导线及第二导线取得这些指示物的可能触碰位置,以便作为第三检测结果,并进一步取得第三检测结果及前述第二检测结果的交集,以将第三检测结果及第二检测结果的交集视为指示物的实际触碰位置。
本发明另提出一种触控系统,此触控系统包括有触控面板、影像检测装置及处理电路。所述触控面板具有触控表面,且此触控面板采用一种触控检测结构,而此触控检测结构包括有多条平行设置的第一导线及多条平行设置的第二导线。上述第二导线垂直于上述第一导线,且当有第一指示物与第二指示物触碰触控表面时,对应于这些指示物的触碰位置的第一导线及第二导线便电耦接。影像检测装置用以检测触控表面的影像。而处理电路电耦接上述第一导线、上述第二导线及影像检测装置。当上述指示物触碰触控表面时,处理电路便通过上述第一导线及第二导线取得这些指示物的可能触碰位置,以便作为第一检测结果,且处理电路还计算影像检测装置所检测到的指示物影像在影像检测装置的影像检测窗中的位置,以便作为第二检测结果,并进一步取得第一检测结果及第二检测结果的交集,以将上述交集视为指示物的实际触碰位置。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于原相科技股份有限公司,未经原相科技股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201010169849.3/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。