[发明专利]测试上行同步维护时间特性的方法与装置有效
申请号: | 201010173937.0 | 申请日: | 2010-05-10 |
公开(公告)号: | CN101834631A | 公开(公告)日: | 2010-09-15 |
发明(设计)人: | 崔乐乐;张治;姜军;迟帅;唐恬 | 申请(专利权)人: | 北京星河亮点通信软件有限责任公司 |
主分类号: | H04B1/707 | 分类号: | H04B1/707 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人: | 孙宝海 |
地址: | 100083 北京市*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 测试 上行 同步 维护 时间 特性 方法 装置 | ||
1.一种测试TD-SCDMA上行同步维护时间特性的方法,其特征在于,所述方法包括:
在移动终端与接收端之间处于上行同步维护过程中,所述接收端接收所述移动终端在第n帧发送的信号,并以a倍速对所述移动终端发送的信号进行采样,其中,0≤n<MAX_SFN;
通过内插法对采样后的数据序列进行内插运算以得到相对于所述移动终端发送信号的b倍速的数据序列,其中,b>a;
将所述b倍速的数据序列分成b组,利用所述接收端的本地复中间码分别与b组数据序列进行相关,得到b个相关峰值和所述b个相关峰值在所述b倍速的数据序列中的相应位置;
根据所述b个相关峰值和所述b个相关峰值在所述b倍速的数据序列中的相应位置拟合所述b倍速的数据序列的二次相关曲线,并计算出二次相关曲线的峰值位置P1;
所述接收端对所述移动终端在第n+m帧发送的信号进行所述采样、内插、相关以及拟合以计算出二次相关曲线的峰值位置P2,并根据所述二次相关曲线的峰值位置P1和所述二次相关曲线的峰值位置P2估计位置偏移量τ,其中,m>0;
将所述接收端估计出的位置偏移量τ与所述移动终端的真实发送时延τ′进行比较以计算所述位置偏移量τ与所述移动终端的真实发送时延τ′的误差。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述进行内插运算的数据序列为a倍速采样的复中间码和所述a倍速采样的复中间码前后各L/2码片的数据序列,其中,L为相关窗的长度。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述内插法为:
在时域内通过对所述a倍速采样的复中间码和所述a倍速采样的复中间码前后各L/2码片的数据序列进行补零以实现内插运算;或
在频域内通过对傅立叶变换后的所述a倍速采样的复中间码和所述a倍速采样的复中间码前后各L/2码片的数据序列进行补零以实现内插运算。
4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据b个相关峰值和所述b个相关峰值在所述b倍速的数据序列中的相应位置拟合所述b倍速的数据序列的二次相关曲线的步骤包括:
构造二次相关曲线模型;
利用最小二乘法根据所述b个相关峰值和所述b个相关峰值在所述b倍速的数据序列中的相应位置计算所述二次相关曲线模型的系数。
5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,根据下述步骤获取所述移动终端的真实发送时延τ′:
提取所述接收端在第n帧与第n+m帧之间向所述移动终端发送的上行同步控制命令字;
根据所述上行同步控制命令字和上行同步步长计算所述移动终端的真实发送时延τ′。
6.一种测试TD-SCDMA上行同步维护时间特性的装置,其特征在于,所述装置包括:
接收和采样模块,用于在上行同步维护过程中接收所述移动终端发送的信号,并以a倍速对所述移动终端发送的信号进行采样;
内插模块,与所述接收和采样模块相连,用于通过内插法对采样后的数据序列进行内插运算以得到相对于所述移动终端发送信号的b倍速的数据序列,其中,b>a;
相关模块,与所述内插模块相连,用于将所述b倍速的数据序列分成b组,利用所述装置的本地复中间码分别与b组数据序列进行相关,得到b个相关峰值和所述b个相关峰值在所述b倍速的数据序列中的相应位置;
拟合和检测模块,与所述相关模块相连,用于根据所述b个相关峰值和所述b个相关峰值在所述b倍速的数据序列中的相应位置拟合所述b倍速的数据序列的二次相关曲线,并计算出二次相关曲线的峰值位置;
位置偏移量估计模块,与所述拟合和检测模块相连,用于根据拟合出的所述移动终端在第n帧发送的信号的二次相关曲线的峰值位置P1和拟合出的所述移动终端在第n+m帧发送的信号的二次相关曲线的峰值位置P2估计出位置偏移量τ,其中,0≤n<MAX_SFN,m>0;
比较模块,与所述位置偏移量估计模块相连,用于将所述位置偏移量τ与所述移动终端的真实发送时延τ′进行比较以计算所述位置偏移量τ与所述移动终端的真实发送时延τ′的误差。
7.根据权利要求6所述的装置,其特征在于,所述内插模块进行内插运算的数据序列为a倍速采样的复中间码和所述a倍速采样的复中间码前后各L/2码片的数据序列,其中,L为相关窗的长度。
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