[发明专利]测试上行同步维护时间特性的方法与装置

说明书

技术领域

本发明涉及TD-SCDMA移动通信技术领域，更具体地，涉及一种测试TD-SCDMA上行同步维护时间特性的方法与装置。

背景技术

移动通信当前已进入3G技术和应用迅猛发展的时代。我国自主开发的时分-同步码分多址接入(Time Division-Synchronization Code DivisionMultiple Access，TD-SCDMA)标准的大规模商用对于我国的通信行业具有关键性的战略意义，其中，移动终端的测试技术又严重影响着TD-SCDMA终端的大规模生产，因此成为产业链中的工作重点。

TD-SCDMA为时分双工(Time Division Duplex，TDD)模式，其在多个时隙以突发的形式传送数据，不同用户间的不完全同步会产生多址干扰，因此定时同步就是整个系统正常工作的基础和前提，具有非常重要的作用。在TD-SCDMA系统中，上行同步分为上行同步建立(Establishment of Uplink Synchronization)和上行同步维护(Maintenance of Uplink Synchronization)两个过程(具体参见《2GHzTD-SCDMA数字蜂窝移动通信网高速上行分组接入(HSUPA)Uu接口物理层技术要求第5部分：物理层过程》中5.2.1章节的介绍，对应的3GPP协议为《25224-840》中的5.1节)。移动终端在上行同步建立的基础上，通过上行同步维护过程来精确地调整上行信号的同步精度，所以上行同步维护的时间精度在很大程度上决定了整个系统上行信号的最高同步精度。

随着对TD-SCDMA增强技术中高速下行分组接入(High SpeedDownlink Package Access，HSDPA)、高速上行分组接入(High SpeedUplink Packet Access，HSUPA)、多媒体广播多播业务(MultimediaBroadcast and Multicast Services，MBMS)、HSPA+(HSPA+是HSPA(3GPPR6)的向下演进版本)的研究和应用的深入，传输速率和信道利用率越来越高，对移动终端同步的时间特性的要求也越来越严格。传统的上行同步维护时间特性测试方法是通过直接将数据采样率提高再与中间码(Midamble)进行相关来获得测试精度的提升，其运算量和存储空间的占用量都很大，并且精度提升的越高，所花费的成本和耗费的资源也就越大。同时，该方法时延明显，给测试带来较大的误差。因此，如何在低成本的情况下有效提高上行同步维护测试精度和效率成为TD-SCDMA终端测试的研究热点。

发明内容

本发明要解决的一个技术问题是提供一种测试TD-SCDMA上行同步维护时间特性的方法，能够以较低的成本有效提高测试精度。

本发明提供了一种测试TD-SCDMA上行同步维护时间特性的方法，包括：在移动终端与接收端之间处于上行同步维护过程中，接收端接收移动终端在第n帧发送的信号，并以a倍速对移动终端发送的信号进行采样，其中，0≤n＜MAX_SFN；通过内插法对采样后的数据序列进行内插运算以得到相对于移动终端发送信号的b倍速的数据序列，其中，b＞a；将b倍速的数据序列分成b组，利用接收端的本地复中间码分别与b组数据序列进行相关，得到b个相关峰值和b个相关峰值在b倍速的数据序列中的相应位置；根据b个相关峰值和b个相关峰值在b倍速的数据序列中的相应位置拟合b倍速的数据序列的二次相关曲线，并计算出二次相关曲线的峰值位置P1；接收端对移动终端在第n+m帧发送的信号进行采样、内插、相关以及拟合以计算出二次相关曲线的峰值位置P2，并根据二次相关曲线的峰值位置P1和二次相关曲线的峰值位置P2估计位置偏移量τ，其中，m＞0；将接收端估计出的位置偏移量τ与移动终端的真实发送时延τ′进行比较以计算位置偏移量τ与移动终端的真实发送时延τ′的误差。

根据本发明方法的一个实施例，进行内插运算的数据序列为a倍速采样的复中间码和a倍速采样的复中间码前后各L/2码片的数据序列，其中，L为相关窗的长度。

根据本发明方法的另一实施例，内插法为：在时域内通过对a倍速采样的复中间码和a倍速采样的复中间码前后各L/2码片的数据序列进行补零以实现内插运算；或在频域内通过对傅立叶变换后的a倍速采样的复中间码和a倍速采样的复中间码前后各L/2码片的数据序列进行补零以实现内插运算。