[发明专利]主板多硬盘端口测试系统与方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种主板硬盘端口测试系统及方法，特别涉及一种主板多硬盘端口测试系统及方法。

背景技术

主板在装配完成后，需经过全面的功能测试，其中包括对主板上各种端口的测试。目前主板上一般都有多个SATA/SAS(SATA：SerialAdvanced Technology Attachment，串行高级技术附件，SAS：SerialAttached SCSI，串行连接SCSI接口)硬盘端口，经过PCI-E(PCI Express)扩展卡扩展后更是达数十个端口，而网络存储装置的硬盘端口更多。测试这些端口的一般做法是测试人员将所有硬盘端口都接上硬盘进行功能测试。如果每个硬盘端口都用硬盘作为测试设备的话，一是由于硬盘的价格一般较高，二是硬盘作为测试设备体积大不便于维护，三是损耗大，四是硬盘容易受到震动而影响测试效果。同时，测试人员如果对端口进行逐个测试，则需每测试完一个端口后又重新插拔硬盘，并且还要重新启动测试程序，在大规模生产应用时会造成成本和时间的浪费。

发明内容

鉴于上述内容，有必要提供一种主板多硬盘端口测试系统及方法。

一种主板多硬盘端口测试系统，该系统用于测试待测主板的多个硬盘端口，所述待测主板的多个硬盘端口与一个测试装置的多个硬盘端口相连接，该测试装置还包括MUX(Multiplexer，多路复用器)芯片、存储设备及指示装置，该系统包括：切换通道模块，用于将待测主板的待测端口号翻译成MUX芯片对应的通道号，以切换MUX芯片的与该通道号对应的通道与存储设备相连，形成一条从待测主板至存储设备的数据传输路径；写校验数据模块，当存储设备与MUX芯片连接好后，通过上述数据传输路径，将校验数据写入存储设备；读校验数据模块，用于从存储设备中经由上述数据传输路径，将所述写入的校验数据读出至待测主板；验证模块，用于验证上述写入及读出的的校验数据是否一致；发送模块，用于当写入和读出的校验数据不一致时，通过I/O端口向MUX芯片发送待测端口异常的信息，该MUX芯片根据该信息驱动指示装置显示待测端口异常；及该发送模块还用于当写入和读出的校验数据一致时，通过I/O端口向MUX芯片发送待测端口正常的信息，该MUX芯片根据该信息驱动指示装置显示待测端口正常；擦除数据模块，当所写入及读出的校验数据一致时，擦除存储设备中写入的校验数据。

一种主板多硬盘端口测试方法，包括以下步骤：(a)从待测主板的多硬盘端口中选择一个待测端口，并将其端口号翻译成测试装置中MUX芯片对应的通道号；(b)MUX芯片切换与该通道号对应的通道与测试装置的存储设备相连，形成一条从待测主板至存储设备的数据传输路径；(c)当存储设备与MUX芯片连接好后，MUX芯片驱动指示装置显示该待测端口的端口号；(d)待测主板经由上述数据传输路径向存储设备写入校验数据并存储；(e)待测主板经由上述数据传输路径从存储设备中读出校验数据；(f)当写入与读出的校验数据不一致时，结束测试；(g)当写入与读出的校验数据一致时，擦除写入存储设备的校验数据；(h)当待测主板还有未测试的硬盘端口时，返回步骤(a)，当该待测主板的所有硬盘端口测试完毕时，表示该待测主板测试成功。

相较现有技术，本发明可一次自动测试主板所有的SATA/SAS硬盘端口，不会因硬盘在测试中受到震动而影响测试效果，节约测试的成本和时间。

附图说明

图1是本发明主板多硬盘端口测试系统较佳实施例的架构图。

图2是待测主板与测试装置硬盘端口的连接方式示意图。

图3是本发明主板多硬盘端口测试系统的功能模块图。

图4是本发明主板多硬盘端口测试方法较佳实施例的流程图。

具体实施方式

如图1所示，是本发明主板多硬盘端口测试系统较佳实施例的架构图。该主板多硬盘端口测试系统10运行于主机1上，主机1中待测主板11与测试装置2相连接。所述测试装置2包括一MUX芯片21、一存储设备22、一I/O端口25、一I/O端口转换模块24、一指示装置23及至少含有一个SATA/SAS端口的SATA/SAS端口组20。所述指示装置23由MUX芯片21驱动。其中，SATA/SAS端口组20中的每个端口都按排列顺序有相应的编号，在图中以6个端口为例；MUX芯片21的通道数可根据实际需要测试的端口数而定制，且芯片通道按排列顺序也有相应的编号。