[发明专利]一种高硬度自洁釉及制备方法有效
申请号: | 201010230337.3 | 申请日: | 2010-07-20 |
公开(公告)号: | CN101870593A | 公开(公告)日: | 2010-10-27 |
发明(设计)人: | 王彦庆;宋子春;董志军;檀瑞超;吉艳光;董子红;高晓琳;马艳丽;王春金 | 申请(专利权)人: | 唐山惠达陶瓷(集团)股份有限公司 |
主分类号: | C04B41/86 | 分类号: | C04B41/86 |
代理公司: | 石家庄冀科专利商标事务所有限公司 13108 | 代理人: | 周晓萍;李桂芳 |
地址: | 063307 *** | 国省代码: | 河北;13 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 硬度 制备 方法 | ||
1.一种高硬度自洁釉,其特征在于,所述自洁釉原料组成包括如下质量份的物质:钾长石8-16,石英10-18,高岭土2,三氧化二铝1-4,方解石1-4,硅酸锆1-3,熔块59-69,其中硅酸锆平均粒径为1~1.5um,熔块的熔融温度为1500~1700℃。
2.根据权利要求1所述的高硬度自洁釉,其特征在于:所述原料加入如下质量份的物质:氧化锌1-4,滑石1-4。
3.根据权利要求2所述的高硬度自洁釉,其特征在于:所述原料由如下质量份的物质组成:钾长石12,石英14,高岭土2,三氧化二铝3,方解石2,硅酸锆2,熔块63,氧化锌1,滑石1。
4.根据权利要求1或2或3所述的高硬度自洁釉,其特征在于,所述化学成分组成范围如下:SiO2 58-65%,Al2O3 8-12,CaO 6-10%,K2O 2-6%,ZnO 5-9%,ZrO2 0.5-0.8%,MgO 0.2-0.5%,Na2O 0.5-1.0%,BaO 0.2-0.6%,Fe2O3≤0.05%,TiO2≤0.03%,余量为杂质。
5.一种高硬度自洁釉制备方法,其特征在于:釉浆制备过程的主要工艺参数如下:釉浆粒度≤10um控制在70%~80%,釉浆浓度330-355g/200ml,釉浆流动性50-80V0(s),干燥速度5-14min/5ml。
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