[发明专利]一种利用MIM电容结构制备非挥发性存储器的方法无效
申请号: | 201010247426.9 | 申请日: | 2010-08-06 |
公开(公告)号: | CN101944569A | 公开(公告)日: | 2011-01-12 |
发明(设计)人: | 黄如;张丽杰;潘岳 | 申请(专利权)人: | 北京大学 |
主分类号: | H01L45/00 | 分类号: | H01L45/00;H01L21/77 |
代理公司: | 北京万象新悦知识产权代理事务所(普通合伙) 11360 | 代理人: | 张肖琪 |
地址: | 100871*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 利用 mim 电容 结构 制备 挥发性 存储器 方法 | ||
1.一种利用MIM电容结构制备阻变存储器的方法,其特征在于,首先用标准CMOS工艺制备MIM电容结构,然后对MIM电容的介质层进行掺杂形成阻变材料层,从而得到MIM结构型的阻变存储器。
2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述MIM电容的介质层为高k材料。
3.如权利要求2所述的方法,其特征在于,所述MIM电容介质层为SiN时,对MIM电容介质层注入Si、0或者其它杂质,形成非化学计量比的阻变材料层。
4.如权利要求2所述的方法,其特征在于,所述MIM电容介质是含有金属氧化物的高k材料时,对MIM电容介质层注入金属离子、O或者其它杂质,形成非化学计量比的阻变材料层。
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