[发明专利]可局部校正的电流源及其相关的微型芯片与方法

权利要求书

1.一种微型芯片，其可根据一参考电流来校正该微型芯片上的一局部电路，其特征在于该微型芯片包含有：

至少一第一电路，设置于该微型芯片上；

至少一第一局部偏压产生电路，以产生一第一偏压电流以输入至该第一电路中；

一参考电流源，耦接至该第一局部偏压产生电路，以提供该参考电流以更新该第一偏压电流；以及

一校正逻辑电路，耦接至该第一局部偏压产生电路，以产生一校正信号来致能该参考电流源以更新该第一偏压电流。

2.如权利要求1所述的微型芯片，其特征在于还包含有：

一第二电路，设置于该微型芯片上；以及

一第二局部偏压产生电路，耦接至该第一局部偏压产生电路，以根据该参考电流源所提供的该参考电流来产生一第二偏压电流以输入至该第二电路中。

3.如权利要求2所述的微型芯片，其特征在于该第一局部偏压产生电路所产生的该第一偏压电流以及该第二局部偏压产生电路所产生的该第二偏压电流，根据不同的校正信号来更新。

4.如权利要求2所述的微型芯片，其特征在于该第一局部偏压产生电路所产生的该第一偏压电流以及该第二局部偏压产生电路所产生的该第二偏压电流，根据相同的校正信号来更新。

5.如权利要求2所述的微型芯片，其特征在于还包含有：

一第三电路，设置于该微型芯片上；以及

一第三局部偏压产生电路，耦接于该参考电流源以及该校正逻辑电路，以产生一第三偏压电流以输入至该第三电路；

其中，当该第三局部偏压产生电路接收到该校正信号时，该第三局部偏压产生电路会根据该参考电流源所提供的该参考电流来更新该第三偏压电流。

6.如权利要求1所述的微型芯片，其特征在于该第一局部偏压产生电路包含有：

一开关，耦接于该参考电流源；

一选择性检测电路，耦接于该校正逻辑电路以及该开关，以于检测到该校正信号时，选择性地导通该开关；

一比较器，耦接于该开关以及该选择性检测电路，以将该第一偏压电流与该参考电流源所提供的该参考电流进行比较，并产生一输出来更新该第一偏压电流；以及

一偏压产生单元，以根据该比较器所产生的该输出产生该第一偏压电流，并将所产生的该第一偏压电流反馈至该比较器的一输入端。

7.如权利要求1所述的微型芯片，其特征在于该校正信号系周期性地产生。

8.如权利要求1所述的微型芯片，其特征在于还包含有：

一热感测器，以检测该微型芯片的一操作温度；

其中，当该微型芯片的该操作温度的变化量达到一预定数值时，该热感测器会致能该校正逻辑电路以产生该校正信号。

9.一种可根据一参考电流来校正一微型芯片上局部电路的方法，该微型芯片包含有多个局部电路以及多个相对应的局部偏压产生电路，其特征在于该方法包含以下步骤：

提供一参考电流，以更新该微型芯片上的一第一局部偏压产生电路所产生的一第一偏压电流；以及

提供一校正信号来致能该参考电流，以更新该第一偏压电流。

10.如权利要求9所述的方法，其特征在于还包含步骤：

根据该参考电流，来更新该微型芯片上的一第二局部偏压产生电路所产生的一第二偏压电流。

11.如权利要求10所述的方法，其特征在于还包含步骤：

根据相同的校正信号，来更新该第一局部偏压产生电路所产生的该第一偏压电流以及该第二局部偏压产生电路所产生的该第二偏压电流。

12.如权利要求10所述的方法，其特征在于还包含步骤：

根据不同的校正信号，来更新该第一局部偏压产生电路所产生的该第一偏压电流以及该第二局部偏压产生电路所产生的该第二偏压电流。

13.如权利要求10所述的方法，其特征在于还包含步骤：

当接收到该校正信号时，根据该参考电流来更新一第三局部偏压产生电路所产生的一第三偏压电流。