[发明专利]一种存储器测试方法及装置

权利要求书

1.一种存储器测试装置，用于对存储器的被测阵列进行测试，其特征在于，包括控制器、信号发生器、与所述被测阵列相连的执行器；所述信号发生器在所述控制器控制下，产生测试信号并通过所述执行器输入到所述被测阵列使其产生功耗以形成所述被测阵列测试所需的测试温度。

2.如权利要求1所述的装置，其特征在于，所述执行器包括与所述被测阵列的行相连接的第一执行器以及与所述被测阵列的列相连接的第二执行器，所述信号发生器在控制器的作用下产生的测试信号包括老化测试信号，所述老化测试信号包括行测试信号和列测试信号，所述行测试信号通过所述第一执行器输入到所述被测阵列以使所述被测阵列产生静态功耗，所述列测试信号通过第二执行器输入到所述被测阵列以使所述被测阵列产生动态功耗。

3.如权利要求1所述的装置，其特征在于，所述第一执行器和第二执行器为MOS管或者三极管。

4.如权利要求1-3任一所述的装置，其特征在于，还包括老化炉，用于对所述被测阵列进行进一步加温，使其达到预设的测试温度。

5.一种存储器测试方法，其特征在于包括如下步骤：

控制器发出测试命令，使所述存储器的被测阵列处于测试状态；

信号发生器接收到所述测试命令后，产生相应的所述测试信号；

执行器接收到所述测试信号后，将其输入所述被测阵列使所述被测阵列产生功耗以形成所述被测阵列测试所需的测试温度，从而得到测试结果。

6.如权利要求5所述的方法，其特征在于，所述测试命令包括使所述执行器处于开启状态的使能命令，还包括静态功耗测试命令和动态功耗测试命令；所述测试信号包括老化测试信号，所述老化测试信号包括行测试信号和列测试信号；所述执行器包括与所述被测阵列的行相连接的第一执行器以及与所述被测阵列的列相连接的第二执行器。

7.如权利要求6所述的方法，其特征在于，所述信号发生器接收到的测试命令不包含所述动态功耗测试命令时，则只产生所述行测试信号，否则，产生所述行测试信号和列测试信号。

8.如权利要求7所述的方法，其特征在于，所述信号发生器接收到的测试命令包含所述动态功耗测试命令时，所述信号发生器先产生行测试信号并通过第一执行器输入到所述被测阵列，待所述被测阵列上的存储单元都达到其开启电压时，信号发生器产生列测试信号并将其通过第二执行器输入到所述被测阵列以产生动态功耗。

9.如权利要求5-8任一所述的方法，其特征在于，所述行测试信号的值为1。

10.如权利要求5-8任一所述的方法，其特征在于，所述列测试信号为振荡信号。

11.如权利要求6所述的方法，其特征在于，所述测试命令还包括老化测试命令和功能测试命令，所述测试信号还包括功能测试信号；所述被测阵列相邻布置，所述信号发生器接收到所述测试命令后，判断是否同时包含老化测试命令和功能测试命令，如果是，则所述信号发生器产生相应的所述老化测试信号并通过相应的执行器输入到所述需要进行老化测试的被测阵列，待其达到预设的温度后，所述信号发生器产生功能测试信号对需要进行功能的被测阵列进行相应的功能测试，其中所述进行老化测试的阵列将功耗产生的温度传递给进行功能测试的阵列以使进行功能测试的阵列达到功能测试所需的测试温度；否则，则只产生相应的所述老化测试信号并通过相应的执行器输入所述被测阵列。

12.如权利要求6所述的方法，其特征在于，所述测试命令还包括老化测试命令和功能测试命令，所述测试信号还包括功能测试信号；所述存储器的同一阵列同时进行老化测试和功能测试命令时，信号发生器产生相应的所述老化测试信号并通过相应的所述执行器发送给所述同一阵列中需要进行老化测试的行和列，待其达到预设的温度后，信号发生器产生功能测试信号对所述同一阵列需要进行功能测试的行和列进行功能测试，其中所述进行老化测的行和列将功耗产生的温度传递给进行功能测试的行和列以使所述进行功能测试的阵列达到功能测试所需的测试温度。

13.如权利要求12所述的方法，其特征在于，所述阵列为分割式位线连接。