[实用新型]一种基于虚拟仪器的模拟集成电路测试系统无效

专利信息
申请号: 201020227867.8 申请日: 2010-06-17
公开(公告)号: CN201740853U 公开(公告)日: 2011-02-09
发明(设计)人: 代国定;杨令;刘世伟;安磊;刘文昊;王博 申请(专利权)人: 西安电子科技大学
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28
代理公司: 西安通大专利代理有限责任公司 61200 代理人: 汪人和
地址: 710071*** 国省代码: 陕西;61
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 虚拟仪器 模拟 集成电路 测试 系统
【权利要求书】:

1.一种基于虚拟仪器的模拟集成电路测试系统,包括计算机、偏置器、电源以及与计算机连接的数据采集卡,其特征在于:所述数据采集卡还连接有信号调理电路,该信号调理电路包括程控增益电路(1)和交直流耦合电路(2);所述交直流耦合电路(2)由相互串联的耦合电路和功率放大电路构成,所述程控增益电路(1)的输出端连接到耦合电路的输入端,所述功率放大电路的输出端连接到待测集成电路的交流信号输入端,待测集成电路的交流信号输出端与程控增益电路(1)的输入端连接;所述偏置器和电源分别连接到待测集成电路上。

2.根据权利要求1所述的基于虚拟仪器的模拟集成电路测试系统,其特征在于:所述程控增益电路(1)由输出信号调理电路(3)和输入信号调理电路(4)组成;所述输出信号调理电路(3)包括第一、二锁存器(A、B),DA转换器,第一开关电路(K1),第一衰减电路(S1)和第一增益放大电路(Z1),所述DA转换器的输入端和第一开关电路(K1)的输入端分别通过第一锁存器(A)和第二锁存器(B)连接到数据采集卡上,所述第一开关电路(K1)分别与第一衰减电路(S1)和第一增益放大电路(Z1)连接,所述第一衰减电路(S1)和第一增益放大电路(Z1)串联且第一衰减电路(S1)的输入端连接到数据采集卡上,第一增益放大电路(Z1)的输出端和DA转换器的输出端分别连接到耦合电路的输入端;

所述输入信号调理电路(4)包括第三锁存器(C)、第二开关电路(K2)、第二增益放大电路(Z2)和第二衰减电路(S2),所述第二开关电路(K2)通过第三锁存器(C)连接到数据采集卡上,第二开关电路(K2)分别与第二增益放大电路(Z2)和第二衰减电路(S2)连接;所述第二增益放大电路(Z2)的输出端连接到数据采集卡上,其输入端与第二衰减电路(S2)的输出端连接,第二衰减电路(S2)的交流信号输入端连接到待测集成电路上。

3.根据权利要求2所述的基于虚拟仪器的模拟集成电路测试系统,其特征在于:所述第一至三锁存器(A、B、C)的均为74HC377。

4.根据权利要求2所述的基于虚拟仪器的模拟集成电路测试系统,其特征在于:所述DA转换器是AD7541。

5.根据权利要求2所述的基于虚拟仪器的模拟集成电路测试系统,其特征在于:所述第一、二开关电路(K1、K2)均为继电器。

6.根据权利要求2所述的基于虚拟仪器的模拟集成电路测试系统,其特征在于:所述第一、二衰减电路(S1、S2)均为电阻网络。

7.根据权利要求2所述的基于虚拟仪器的模拟集成电路测试系统,其特征在于:所述第一、二增益放大电路(Z1、Z2)均为PGA202。

8.根据权利要求1所述的基于虚拟仪器的模拟集成电路测试系统,其特征在于:所述数据采集卡为PCI-1721与PCI1716L的组合。

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