[发明专利]TFT-LCD阵列基板及其制造方法有效

专利信息
申请号: 201110020223.0 申请日: 2011-01-18
公开(公告)号: CN102148195A 公开(公告)日: 2011-08-10
发明(设计)人: 宋泳锡;崔承镇;刘圣烈 申请(专利权)人: 北京京东方光电科技有限公司
主分类号: H01L21/77 分类号: H01L21/77;H01L21/336;H01L27/12;G02F1/1362;G02F1/1368
代理公司: 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 代理人: 刘芳
地址: 100176 北*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: tft lcd 阵列 及其 制造 方法
【权利要求书】:

1.一种TFT-LCD阵列基板的制造方法,其特征在于,包括:

步骤1、在透明基板上沉积第一透明导电薄膜及第一金属薄膜,对既定区域进行构图,形成包括栅线、栅电极、公共电极以及公共电极线的图形;

步骤2、沉积栅绝缘薄膜、半导体薄膜及掺杂半导体薄膜,对既定区域进行构图,形成包括PAD区域的栅线连接孔以及半导体层的图形;

步骤3、沉积第二金属薄膜,对既定区域进行构图,沉积第二透明导电薄膜,进行离地剥离工艺,并刻蚀既定区域的第二金属薄膜及掺杂半导体薄膜,形成包括源电极、漏电极、TFT沟道以及像素电极的图形。

2.根据权利要求1所述的TFT-LCD阵列基板的制造方法,其特征在于,其中所述步骤1具体包括:

步骤11:在透明基板上依次沉积第一透明导电薄膜和第一金属薄膜;

步骤12:涂覆光刻胶,并采用第一半色调掩膜板进行曝光及显影处理,使得所述光刻胶的不曝光区域对应阵列基板的栅线、栅电极以及公共电极线的区域,部分曝光区域对应阵列基板的公共电极的区域,完全曝光区域对应其余区域;

步骤13:进行第一刻蚀工艺,去掉所述完全曝光区域的第一金属薄膜及第一透明导电薄膜,形成了包括栅线、栅电极、公共电极及公共电极线的图形;

步骤14:对光刻胶进行灰化工艺,暴露出了部分曝光区域的第一金属薄膜;

步骤15:进行第二刻蚀工艺,去掉部分曝光区域的第一金属薄膜,暴露出了公共电极;

步骤16:剥离光刻胶。

3.根据权利要求1所述的TFT-LCD阵列基板的制造方法,其特征在于,其中所述步骤2具体包括:

步骤21:在步骤1的得到的结构上沉积了栅绝缘薄膜、半导体薄膜及掺杂半导体薄膜;

步骤22:涂覆光刻胶,并采用第二半色调掩膜板进行曝光及显影处理,使得光刻胶的不曝光区域对应TFT沟道的区域,完全曝光区域对应阵列基板的PAD区域的栅线的区域,部分曝光区域对应其余区域;

步骤23:进行第三刻蚀工艺,去掉所述完全曝光区域的掺杂半导体薄膜、半导体薄膜及栅绝缘薄膜,暴露出了PAD区域的栅线,形成了PAD区域栅线连接孔及栅绝缘层的图形;

步骤24:对光刻胶进行灰化工艺,暴露出部分曝光区域的掺杂半导体薄膜;

步骤25:在进行第四刻蚀工艺,去掉了所述部分曝光区域的掺杂半导体薄膜、半导体薄膜及栅绝缘薄膜,形成了包括半导体层的图形;

步骤26:剥离光刻胶。

4.根据权利要求1所述的TFT-LCD阵列基板的制造方法,其特征在于,其中所述步骤3具体包括:

步骤31:在步骤2得到的结构上沉积了第二金属薄膜;

步骤32:涂覆光刻胶,并采用第三半色调掩膜板进行曝光及显影处理,使得光刻胶的完全曝光区域对应阵列基板的像素电极的区域,部分曝光区域对应源电极、漏电极及PAD区域的栅线、PAD区域的数据线以及PAD区域的公共电极线的区域,不曝光区域对应其余区域;

步骤33:进行第五刻蚀工艺,去掉所述完全曝光区域的所述第二金属薄膜600;

步骤34:对所述光刻胶进行灰化工艺,暴露出了所述部分曝光区域的第二金属薄膜;

步骤35:沉积第二透明导电薄膜;

步骤36:进行离地剥离工艺,形成像素电极的图形;

步骤37:进行第六刻蚀工艺,去掉暴露出的第二金属薄膜及掺杂半导体薄膜,形成了源电极、漏电极以及TFT沟道的图形。

5.一种TFT-LCD阵列基板的制造方法,其特征在于,包括:

步骤100、在透明基板上沉积第一透明导电薄膜及第一金属薄膜,对既定区域进行构图,形成包括栅线、栅电极、像素电极以及公共电极线的图形;

步骤200、沉积栅绝缘薄膜、半导体薄膜及掺杂半导体薄膜,对既定区域进行构图,形成包括过孔、PAD区域的栅连接孔以及半导体层的图形;

步骤300、沉积第二金属薄膜,对既定区域进行构图,沉积第二透明导电薄膜,进行离地剥离工艺,并刻蚀既定区域的第二金属薄膜及掺杂半导体薄膜,形成包括源电极、漏电极、TFT沟道以及公共电极的图形。

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