[发明专利]具有抑制特性偏移的结构的薄膜晶体管面板及其制造方法有效

专利信息
申请号: 201110028213.1 申请日: 2006-10-20
公开(公告)号: CN102163610A 公开(公告)日: 2011-08-24
发明(设计)人: 石井裕满 申请(专利权)人: 卡西欧计算机株式会社
主分类号: H01L27/12 分类号: H01L27/12;H01L21/77
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人: 黄剑锋
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 具有 抑制 特性 偏移 结构 薄膜晶体管 面板 及其 制造 方法
【权利要求书】:

1.一种薄膜晶体管面板,包括:

基板(1);

薄膜晶体管(3),形成在所述基板(1)上,具有栅电极(6)、栅绝缘膜(7)、半导体薄膜(8)、在所述半导体薄膜(8)上形成的一对欧姆接触层(10、11)、以及在所述各欧姆接触层(10、11)上形成的源电极(12)和漏电极(13),所述半导体薄膜(8)在所述源电极(12)和所述漏电极(13)之间具有沟道区域;

过覆膜(18),设置在所述薄膜晶体管(3)上;

像素电极(2),设置在过覆膜(18)上,且与所述薄膜晶体管(3)的所述源电极(12)连接;以及

第一和第二导电性被覆膜(14、15),设置在与所述源电极(12)和所述漏电极(13)的上部对应的所述过覆膜(18)上,由与所述像素电极(2)相同的材料形成;

所述第一导电性被覆膜(14)被设置为宽度比所述源电极(12)的宽度宽,

所述第二导电性被覆膜(15)被设置为宽度比所述漏电极(13)的宽度宽,并且通过设置在所述过覆膜(18)中的接触孔(20)与所述漏电极(13)连接。

2.根据权利要求1所述的薄膜晶体管面板,其特征在于,所述第一导电性被覆膜(14)设置成在所述源电极(12)上的所述过覆膜(18)的上表面与所述像素电极(2)连续,通过设置在所述过覆膜(18)中的接触孔(19)与所述源电极(12)连接。

3.一种薄膜晶体管面板的制造方法,其特征在于,包括以下工序:

在基板(1)上形成薄膜晶体管(3),该薄膜晶体管(3)在栅电极(6)上隔着栅绝缘膜(7)设置有半导体薄膜(8),在所述半导体薄膜(8)上设置有一对欧姆接触层(10、11),在所述各欧姆接触层(10、11)上设置有源电极(12)和漏电极(13);

在所述薄膜晶体管(3)上对像素电极形成用膜(27)进行成膜,

刻蚀所述像素电极形成用膜(27)形成与所述薄膜晶体管(3)的所述源电极(12)连接的像素电极(2)、源极侧导电性被覆膜(14)及漏极侧导电性被覆膜(15);该源极侧导电性被覆膜(14)做成在所述源电极(12)的上部,宽度比所述源电极(12)的宽度更宽,并且完全覆盖沟道区域的外侧区域的所述源电极(12);该漏极侧导电性被覆膜(15)做成在所述漏电极(13)的上部,宽度比所述漏电极(13)的宽度更宽,并且完全覆盖沟道区域的外侧区域中的所述漏电极(13),并且与所述漏电极电连接。

4.根据权利要求3所述的薄膜晶体管面板的制造方法,其特征在于,所述像素电极形成用膜(27)由ITO构成。

5.根据权利要求3所述的薄膜晶体管面板的制造方法,其特征在于,所述像素电极(2)和所述源极侧导电性被覆膜(14)被电连接。

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