[发明专利]具有抑制特性偏移的结构的薄膜晶体管面板及其制造方法有效
申请号: | 201110028213.1 | 申请日: | 2006-10-20 |
公开(公告)号: | CN102163610A | 公开(公告)日: | 2011-08-24 |
发明(设计)人: | 石井裕满 | 申请(专利权)人: | 卡西欧计算机株式会社 |
主分类号: | H01L27/12 | 分类号: | H01L27/12;H01L21/77 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人: | 黄剑锋 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 具有 抑制 特性 偏移 结构 薄膜晶体管 面板 及其 制造 方法 | ||
1.一种薄膜晶体管面板,包括:
基板(1);
薄膜晶体管(3),形成在所述基板(1)上,具有栅电极(6)、栅绝缘膜(7)、半导体薄膜(8)、在所述半导体薄膜(8)上形成的一对欧姆接触层(10、11)、以及在所述各欧姆接触层(10、11)上形成的源电极(12)和漏电极(13),所述半导体薄膜(8)在所述源电极(12)和所述漏电极(13)之间具有沟道区域;
过覆膜(18),设置在所述薄膜晶体管(3)上;
像素电极(2),设置在过覆膜(18)上,且与所述薄膜晶体管(3)的所述源电极(12)连接;以及
第一和第二导电性被覆膜(14、15),设置在与所述源电极(12)和所述漏电极(13)的上部对应的所述过覆膜(18)上,由与所述像素电极(2)相同的材料形成;
所述第一导电性被覆膜(14)被设置为宽度比所述源电极(12)的宽度宽,
所述第二导电性被覆膜(15)被设置为宽度比所述漏电极(13)的宽度宽,并且通过设置在所述过覆膜(18)中的接触孔(20)与所述漏电极(13)连接。
2.根据权利要求1所述的薄膜晶体管面板,其特征在于,所述第一导电性被覆膜(14)设置成在所述源电极(12)上的所述过覆膜(18)的上表面与所述像素电极(2)连续,通过设置在所述过覆膜(18)中的接触孔(19)与所述源电极(12)连接。
3.一种薄膜晶体管面板的制造方法,其特征在于,包括以下工序:
在基板(1)上形成薄膜晶体管(3),该薄膜晶体管(3)在栅电极(6)上隔着栅绝缘膜(7)设置有半导体薄膜(8),在所述半导体薄膜(8)上设置有一对欧姆接触层(10、11),在所述各欧姆接触层(10、11)上设置有源电极(12)和漏电极(13);
在所述薄膜晶体管(3)上对像素电极形成用膜(27)进行成膜,
刻蚀所述像素电极形成用膜(27)形成与所述薄膜晶体管(3)的所述源电极(12)连接的像素电极(2)、源极侧导电性被覆膜(14)及漏极侧导电性被覆膜(15);该源极侧导电性被覆膜(14)做成在所述源电极(12)的上部,宽度比所述源电极(12)的宽度更宽,并且完全覆盖沟道区域的外侧区域的所述源电极(12);该漏极侧导电性被覆膜(15)做成在所述漏电极(13)的上部,宽度比所述漏电极(13)的宽度更宽,并且完全覆盖沟道区域的外侧区域中的所述漏电极(13),并且与所述漏电极电连接。
4.根据权利要求3所述的薄膜晶体管面板的制造方法,其特征在于,所述像素电极形成用膜(27)由ITO构成。
5.根据权利要求3所述的薄膜晶体管面板的制造方法,其特征在于,所述像素电极(2)和所述源极侧导电性被覆膜(14)被电连接。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的