[发明专利]NandFlash控制器中错误校正码模块的测试方法及系统

说明书

技术领域

本发明涉及芯片测试技术领域，更具体地说，涉及一种NandFlash控制器中错误校正码模块的测试方法及系统。

背景技术

芯片验证是保证芯片功能的必要环节，对于芯片验证过程中，有些涉及到较多复杂逻辑的模块，需要特别的方法来覆盖到其所包括的逻辑。

Flash存储器又称闪存，是存储芯片的一种，它结合了ROM和RAM的长处，不仅具备电子可擦除可编程的性能，还不会断电丢失数据同时可以快速读取数据。NandFlash内存是flash内存的一种，其内部采用非线性宏单元模式，为固态大容量内存的实现提供了廉价有效的解决方案。NandFlash存储器具有容量较大、改写速度快等优点，适用于大量数据的存储，因而在业界得到了越来越广泛的应用，如嵌入式产品中包括数码相机、MP3随身听记忆卡、体积小巧的U盘等。

NandFlash的控制逻辑比较复杂，对时序要求也十分严格，而且最重要的是NandFlash中允许存在一定的坏块，而且坏块在使用过程中还可能增加，这就给判断坏块、给坏块做标记和擦除等操作带来很大的难度，于是就要求有一个控制器，即NandFlash控制器，使系统用户能够方便地使用NandFlash。

在现有的NandFlash控制器中，通常带有ECC(Error Correction Code，错误校正码)模块，用来对NandFlash中的数据进行校验修正，现在大部分NandFlash支持4bit/8bit/12bit/24bit/32bit的ECC纠错模式。通常芯片内部的ECC纠错逻辑较为复杂，所以需要针对芯片内部的ECC功能进行详细地验证，以保证其功能正确无误，进而保证NandFlash读写数据的正确。但现有技术中还没有对ECC模块纠错逻辑是否正确进行验证的有效方案。

发明内容

本发明实施例提供一种NandFlash控制器中错误校正码模块的测试方法及系统，实现对ECC模块的验证，保证其逻辑功能的正确性。

为此，本发明实施例提供如下技术方案：

一种NandFlash控制器中错误校正码模块的测试方法，包括：

产生预定个数的随机数据；

获取所述随机数据的ECC校验数据；

根据所述随机数据生成测试数据；

在关闭ECC功能的模式下将所述测试数据和所述ECC校验数据写入NandFlash；

在开启ECC功能的模式下从所述NandFlash中读取写入的测试数据；

如果ECC模块报错，则确定所述ECC模块功能正常；否则确定所述ECC模块功能异常。

优选地，所述获取所述随机数据的ECC数据包括：

在开启ECC功能的模式下将所述随机数据写入NandFlash；

在关闭ECC功能的模式下从所述NandFlash中读出所述ECC模块生成的ECC校验数据。

优选地，所述方法还包括：

在从所述NandFlash中读出所述ECC模块生成的ECC校验数时，从所述NandFlash中读出写入的随机数据；

比较读出的随机数据与写入的随机数据；

如果读出的随机数据与写入的随机数据相同，则执行所述根据所述随机数据生成测试数据的步骤。

优选地，所述根据所述随机数据生成测试数据包括：

选取所述随机数据中的一个或多个比特进行取反操作，将包含翻转后比特的随机数据作为测试数据。

优选地，所述选取所述随机数据中的一个或多个比特进行取反操作包括：

随机选取所述随机数据中的1至32比特进行取反操作。

一种NandFlash控制器中错误校正码模块的测试系统，包括：

随机数发生器，用于产生预定个数的随机数据；

校验数据获取单元，用于获取所述随机数据的ECC校验数据；

测试数据生成单元，用于根据所述随机数据生成测试数据；

测试单元，用于在关闭ECC功能的模式下将所述测试数据和所述ECC校验数据写入NandFlash；在开启ECC功能的模式下从所述NandFlash中读取写入的测试数据；

验证单元，用于在所述测试单元从所述NandFlash中读取写入的测试数据过程中，监测所述ECC模块是否报错，如果ECC模块报错，则确定所述ECC模块功能正常；否则确定所述ECC模块功能异常。