[发明专利]阵列基板及其制造方法、液晶显示器件有效

专利信息
申请号: 201110175220.4 申请日: 2011-06-29
公开(公告)号: CN102629046A 公开(公告)日: 2012-08-08
发明(设计)人: 郭建;闵泰烨;陈旭;谢振宇;张文余 申请(专利权)人: 北京京东方光电科技有限公司
主分类号: G02F1/1362 分类号: G02F1/1362;G02F1/1368;H01L27/12;H01L21/77
代理公司: 北京中博世达专利商标代理有限公司 11274 代理人: 申健
地址: 100176 北京*** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 阵列 及其 制造 方法 液晶显示 器件
【权利要求书】:

1.一种阵列基板,包括基板,所述基板上设有栅线,垂直于所述栅线设有数据线,所述栅线和所述数据线之间限定有像素区域,所述像素区域内设有薄膜晶体管和像素电极,所述薄膜晶体管的栅极与所述栅线连接、源极与所述数据线连接、漏极与所述像素电极连接,其特征在于,所述像素电极所在的层与所述数据线所在的层之间设有树脂介电层。

2.根据权利要求1所述的阵列基板,其特征在于,所述基板上还设有公共电极,所述公共电极所在的层与所述像素电极所在的层相邻绝缘地设置。

3.根据权利要求1所述的阵列基板,其特征在于,所述公共电极与所述栅线同层设置。

4.根据权利要求2所述的阵列基板,其特征在于,所述公共电极所在的层与所述像素电极所在的层之间设有像素电极绝缘层。

5.根据权利要求4所述的阵列基板,其特征在于,所述阵列基板的用于绑定驱动电路的绑定区域内的树脂介电层的厚度,小于其余区域内的树脂介电层的厚度。

6.根据权利要求5所述的阵列基板,其特征在于,所述绑定区域内设有用于与驱动电路绑定的绑定栅线和绑定数据线,所述绑定栅线与所述栅线同层设置,所述绑定数据线与所述数据线同层设置;且

所述绑定栅线的上方设有栅线连接过孔,所述栅线连接过孔穿透所述像素电极绝缘层、树脂介电层、钝化层和栅绝缘层;

所述绑定数据线的上方设有数据线连接过孔,所述数据线连接过孔穿透所述像素电极绝缘层、树脂介电层和钝化层。

7.根据权利要求6所述的阵列基板,其特征在于,

所述栅线连接过孔包括通过两次构图工艺形成的一级栅线连接过孔和二级栅线连接过孔,所述一级栅线连接过孔在一次构图工艺中通过穿透所述树脂介电层形成,所述二级栅线连接过孔在另一次构图工艺中通过穿透所述像素电极绝缘层、钝化层和栅绝缘层形成,且所述二级栅线连接过孔的径向尺寸大于所述一级栅线连接过孔的径向尺寸,所述二级栅线连接过孔套设在所述一级栅线连接过孔中;

所述数据线连接过孔包括通过两次构图工艺形成的一级数据线连接过孔和二级数据线连接过孔,所述一级数据线连接过孔在一次构图工艺中通过穿透所述树脂介电层形成,所述二级数据线连接过孔在另一次构图工艺中通过穿透所述像素电极绝缘层和钝化层形成,且所述二级数据线连接过孔的径向尺寸大于所述一级数据线连接过孔的径向尺寸,所述二级数据线连接过孔套设在所述一级数据线连接过孔中。

8.根据权利要求1-4中任一项所述的阵列基板,其特征在于,所述树脂介电层与所述薄膜晶体管的源极和漏极所在的层之间设有钝化层,通过穿透所述树脂介电层和所述钝化层的介电-钝化层过孔所述像素电极和所述薄膜晶体管的漏极连接。

9.根据权利要求1-4中任一项所述的阵列基板,其特征在于,所述树脂介电层由正性感光树脂、负性感光树脂或非感光树脂制成。

10.根据权利要求9所述的阵列基板,其特征在于,在由正性感光树脂或负性感光树脂制成时,所述树脂介电层的厚度为2~5微米,在由非感光树脂制成时,所述树脂介电层的厚度为小于2微米,优选为小于1.5微米。

11.一种如权利要求1-10中任一项所述的阵列基板的制造方法,其特征在于,包括:

在像素电极所在的层与数据线所在的层之间形成树脂介电层。

12.根据权利要求11所述的阵列基板的制造方法,其特征在于,在像素电极所在的层与数据线所在的层之间形成树脂介电层包括:

步骤11,在基板上形成栅线和薄膜晶体管的栅极;

步骤12,在形成有栅线和薄膜晶体管的栅极的基板上形成数据线和薄膜晶体管的有源层、源极、漏极和沟道;

步骤13,在形成有数据线和薄膜晶体管的有源层、源极、漏极和沟道的基板上形成树脂介电层;

步骤14,在形成有树脂介电层的基板上形成像素电极,且所述薄膜晶体管的栅极与所述栅线连接、源极与所述数据线连接、漏极与所述像素电极连接。

13.根据权利要求12所述的阵列基板的制造方法,其特征在于,所述方法还包括:

步骤15,在形成有像素电极的基板上形成公共电极。

14.根据权利要求12所述的阵列基板的制造方法,其特征在于,在步骤11中形成栅线和薄膜晶体管的栅极的同时,还形成公共电极。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京京东方光电科技有限公司,未经北京京东方光电科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201110175220.4/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top