[发明专利]全电波暗室无效
申请号: | 201110205019.6 | 申请日: | 2011-07-13 |
公开(公告)号: | CN102882613A | 公开(公告)日: | 2013-01-16 |
发明(设计)人: | 韩兆祥;徐昭娣;刘冉冉;刘宏彻 | 申请(专利权)人: | 英业达股份有限公司;英顺达科技有限公司 |
主分类号: | H04B17/00 | 分类号: | H04B17/00;H05K9/00 |
代理公司: | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 | 代理人: | 曾红 |
地址: | 中国台湾台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 电波 暗室 | ||
技术领域
本发明是有关于一种电波暗室,尤其是有关于一种全电波暗室。
背景技术
为了检测无线网卡吞吐量的能力,必须对无线网卡进行吞吐量的测试。无线网卡数据的传输分为发送(Tx)和接收(Rx)两部分,发送、接收和数据的传输率、带宽有关系。802.11传输协议中最常见的是802.11a/b/g,802.11n则提供更高的传输率。802.11a高速无线局域网络(WLAN)协议使用5GHz频段(Frequency Band),最高传输率为54Mbps,802.11b/g使用2.4GHz频段,802.11b最高位为11Mbps的传输率,802.11g最高可以达到54Mbps的传输率。当进行更高传输率的吞吐量测试时,可以通过架设三根天线来达到更高的传输率。所以进行不同频段下测试时,选用不同的测试天线,在更高传输率下则使用多根天线。
为了防止外界信号噪声的干扰,需要在无干扰的环境下进行无线网卡吞吐量的测试,通常选用全电波暗室来进行测试。吞吐量测试一般要求被测设备(Equipment Under Test,EUT)与天线处于相同的高度以及相对位置约可为1米为例。在目前的全电波暗室内,一根天线可以达到要求传输率的情况下进行吞吐量测试,这种相对位置的架设如下列所述。
首先,在距离测试转桌约1米的位置处,挪开地面上的吸波物,提供放置吞吐量测试的天线架的空间,然后在天线架上量取与被测设备相同高度的位置,将天线固定在这个位置,然后通过电缆(Cable)连接天线与墙壁转接板,在全电波暗室外用电缆,通过墙壁转接板进行全电波暗室外的架设与操作。
当进行更高传输率情况下的无线局域网络的吞吐量测试时,需要三根天线,依序架设天线于习知的天线架上,架设位置为中间的天线正对着被测设备,相对距离约可为1米为例,与被测设备处于同一个高度上,两侧的天线与中间的处于同一水平线上,距离中间天线的长度皆约为15厘米。
已知的天线架的架设方法具有下列缺点:
1、为了架设天线,需要移动地面吸波物,以提供落地式天线架放置的空间,这样会破坏全电波暗室的均匀性。
2、每次进行吞吐量测试,都需将天线架搬进全电波暗室进行天线架设,测试完成后再将天线架搬出全电波暗室,以让全电波暗室进行另外项目的测试,会花费许多不必要的时间,影响测试效率。
3、在全电波暗室内,同一个落地式天线架可做为不同测试的支架,不同测试需要的高度不一定相同,使得在进行吞吐量测试前,都要对天线架支撑的高度位置做测量,与天线架摆放于全电波暗室内地面位置做测量,测试人员操作有可能在调整时出现失误,使测试读数不准确。
发明内容
本发明的目的是针对前述现有技术的问题,提供一种全电波暗室。
因此,本发明提供了一种全电波暗室,其包含一测试室、一测试转桌、一种天线架装置。测试室包含一外墙,此外墙具有一孔洞。测试转桌设置在测试室内。天线架装置包含天线架、管道以及驱动装置。管道的内部是供天线架设置,管道的一端与测试室连通。驱动装置连接于天线架,用以控制使天线架进出管道,并控制测试转桌。
优选地,其中孔洞的高度与测试转桌的高度相同,且管道的所述端由孔洞与测试室连通,由驱动装置控制,天线架通过孔洞进出测试室。
优选地,天线架装置更包含支架。支架设置于外墙,与管道的所述端结合,用以支撑管道。
优选地,天线架具有一齿轮轮纹。驱动装置包含齿轮及转轮。齿轮设置在支架上,与齿轮轮纹啮合。转轮设置在管道内,连接齿轮。此驱动装置更包含光纤线路与控制器。光纤线路连接转轮,然后,控制器连接光纤线路,用以控制转轮转动使天线架进出管道,并同时控制测试转桌。
优选地,天线架为圆柱状天线架。
优选地,管道为圆柱状中空管道。
优选地,天线架为实心钢杆。
优选地,测试室内包含至少一吸波物。
优选地,管道的另一端被一壁部构造所支撑。
综合上述,本发明具备不需人为移动天线架,天线架的高度可固定,可通过驱动装置控制天线架进出管道,避免人为操作产生的误差等诸多优点。
以下将以实施方式对上述的说明做详细的描述,并揭示内容的技术方案提供更进一步的解释。
附图说明
为让本发明的上述和其他目的、特征、优点与实施例能更明显易懂,所附图的说明如下:
图1A是依照本发明一实施例的一种全电波暗室的外部正视图。
图1B是本发明一实施例的一种全电波暗室的内部俯视图。
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