[发明专利]电离层小尺度结构的雷达成像方法有效

专利信息
申请号: 201110217010.7 申请日: 2011-07-29
公开(公告)号: CN102901963A 公开(公告)日: 2013-01-30
发明(设计)人: 李芳;李廉林;刘艳丽 申请(专利权)人: 中国科学院电子学研究所
主分类号: G01S13/90 分类号: G01S13/90
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 周国城
地址: 100190 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 电离层 尺度 结构 雷达 成像 方法
【权利要求书】:

1.一种电离层小尺度结构的雷达成像方法,其特征在于:

步骤一:地基雷达脉冲线性调频信号照射电离层并接受经电离层散射的回波数据,其中τ为快时间即距离时间,Tr为脉冲持续时间,为雷达脉冲包络,fc为发射信号的载频,Kr表示距离向调频斜率;

步骤二:根据雷达回波数据计算三类相关函数;

步骤三:对多站雷达工作系统,用下式:A(ρ)=256πk3zs(1-B2/4)2jLBe2jzskBd2ρΓ1,1b(ρ;k,B;z=0)exp[jk(1-B2/4)Bzs(ρ-ρ)2]]]>估计电离层不规则体高度zs,其中工作波长,c是自由空气中的光速,ω是雷达信号的中心角频率,B是信号带宽,是虚数单位,L表示电离层不规则的厚度;

对单站雷达工作系统,用下式:

A(ρ)=64πzsk3(1-B2/2)2jLBej2zskBd2ρΓ1,1b(ρ;k,B;z=0)]]>

×exp[-jzs(ρ2k(1-B2/4)B-ρ·ρ(kB-kB2)-ρ216(2kB-kB))]]]>

估计电离层不规则体高度zs

步骤四:对多站雷达工作系统,用式:

A(ρ)=256k2π31Zu-1Zu+LΓ1,1b(2ρ,0)]]>

和式:

A(ρ)=32k3πzsjLexp(-j4kzs)d2ρ1Γ2,0b(ρ1,0)exp[-jk4zs[(ρ1+ρ)2+ρ2]]]]>重构电离层不规则体相关函数;

对单站雷达工作系统,用式:

A(ρ)=256k2π21Zu-1(Zu+L)Γ1,1b(ρ,0)]]>

和式:

A(ρ)=128k3πzsjLexp(-j4kzs)d2ρΓ2,0b(ρ,0)exp[-jk2zs(ρ-ρ)2]]]>重构电离层不规则体相关函数;

步骤五:将步骤四计算所得结果输出,进行电离层小尺度结构的雷达成像。

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