[发明专利]一种小体积高耐压MOSFET有效

专利信息
申请号: 201110230447.4 申请日: 2011-08-12
公开(公告)号: CN102280485A 公开(公告)日: 2011-12-14
发明(设计)人: 关仕汉;吕新立 申请(专利权)人: 淄博美林电子有限公司
主分类号: H01L29/78 分类号: H01L29/78;H01L29/06;H01L29/08
代理公司: 淄博佳和专利代理事务所 37223 代理人: 孙爱华
地址: 255000 *** 国省代码: 山东;37
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摘要:
搜索关键词: 一种 体积 耐压 mosfet
【权利要求书】:

1.一种小体积高耐压MOSFET,包括半导体基板上的有源区(101)和边缘区(102),有源区(101)位于半导体基板的中心区,边缘区(102)环绕在有源区(101)的四周上方,边缘区(102)的下方主扩散结(1)的上方覆盖有SiO2层(6),其特征在于:有源区(101)和边缘区(102)的主扩散结(1)为贯穿半导体基板中心区的PN结平面层,SiO2层(6)外围及边缘区(102)侧面覆盖有钝化层(9)。

2.根据权利要求1所述的一种小体积高耐压MOSFET,其特征在于:所述的主扩散结(1)厚度为1-10微米。

3.根据权利要求1所述的一种小体积高耐压MOSFET,其特征在于:所述的MOSFET为N通道或P通道。

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