[发明专利]永磁体表面磁场强度的检测装置及检测方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种磁场强度的测量方法，尤其涉及一种用于检测永磁体磁体表面磁场强度的检测方法。

背景技术

永磁体由于其具有高剩磁、高矫顽力、高磁能积等优异特性，且容易加工成各种形状规格的磁体，被广泛用于电机、仪表、电子元器件等永久磁场的装置和设备中。永磁体的工作方式主要是利用永磁体其自身产生的磁场强度，如何测量永磁体的磁场强度是永磁体装配前检验判定的关键，需要一种快速、准确、接近使用状态的磁场强度测量方法。

单个永磁体，其表面磁场强度随着空间不同位置，而呈现不同的强度值，一般表现为永磁体的极性表面的中心位置磁场强度低于极性表面的四周位置的磁场强度，另外，离开永磁体极性表面距离越远，表面磁场强度越小。

目前永磁体磁场强度检验有两种方法，一种是采用磁通计加亥姆霍兹线圈测量永磁体的整体磁通，另一种是利用高斯计加霍尔探头测量永磁体某点的表面磁场强度。这两种方法都是采用开路测量方法。

目前这两种方法的测量，磁通计加亥姆霍兹线圈测量出来的是整个永磁体的磁通，但无法反映永磁体工作时候的表面磁场强度分布情况，对于永磁体的使用意义不大。而另一种高斯计加霍尔探头测量方法，该方法只能检测出永磁体某一个空间点的磁场强度，由于受到磁体测量位置、霍尔探头元件的厚度、使用人员水平的影响，测量数据差异很大，同时检测效率很慢，无法进行快速准确的检测。以上两种方法的测量都是对单个永磁体的测量。

具体说来，现有技术的磁场强度测量方法存在如下不足：常规方法测量的是单体永磁体的表面磁场强度，而实际应用时候，永磁体要和其他器件相接触，形成一个工作磁路，该工作磁路的磁场强度与单个永磁体的磁场强度是不一样的，也就是说测量单个永磁体的表面磁场强度无法反应永磁体工作时候的表面磁场强度。现有技术的高斯计加霍尔探头测量方法只能测量空间某一点位置的表面磁场强度，需要特别规定某一个位置，然后才有测量意义。现有技术中的高斯计加霍尔探头测量方法受限制于hall元件厚度和测量人员水平。

发明内容

为了解决现有技术中高斯计加霍尔探头等测量方法存在的技术问题，本发明利用C型软磁材料零件和永磁体共同形成一个模拟工作态，在永磁体和软磁材料中间形成一个均匀磁场强度的气隙场，从而使用高斯计加霍尔探头检测该均匀气隙场的磁场强度，实现快速准确的永磁体表面强度的检测。

本发明主要利用C型软磁材料零件，在永磁体这边形成一个工作磁路，此时永磁体和C型软磁材料间形成一个均匀的磁场，模拟一种永磁体的工作状态，使得测量的数值更接近于永磁体的工作状态。测量永磁体的表面磁感应强度，不再是测量某一个空间点位置，而是测量永磁体表面处形成的均匀的磁场，测量时只需要将霍尔探头放置在该磁场中，就可以实现永磁体的表面磁场强度测量，方便快捷并且准确。

根据本发明的实施例的方法的实现，可以忽略空间位置，因为测量的是永磁体表面所产生的均匀磁场强度，霍尔探头在这个区域里面，不需要特别固定某一个位置。

根据本发明的实施例的方法利用永磁体和C型软磁材料零件开口处的气隙形成一个均匀磁场，霍尔探头固定在该气隙中间，测量人员只要负责将磁体放入气隙中，从而人员操作差异性对测量结果的影响基本可以忽略。

根据本发明的实施例，提供了一种永磁体的磁场强度的检测方法，所述方法包括：将永磁体放置在C型软磁材料零件的开口处，使永磁体与C型软磁材料零件之间形成气隙，并在气隙中形成均匀磁场，利用霍尔探头测量该磁场强度。

利用非导磁传送轨道将永磁体传送到C型软磁材料零件的开口处。

在非导磁传送轨道上设置有刻度，用于帮助永磁体精确地送入C型软磁材料零件的开口中的规定位置。

霍尔探头采集到的磁感应强度通过外接高斯计进行显示。

根据本发明的实施例，提供了一种永磁体的磁场强度的检测装置，所述检测装置包括C型软磁材料零件、传送轨道和霍尔探头，其中，永磁体通过传送轨道传送到C型软磁材料零件的开口处，霍尔探头设置在被测永磁体与C型软磁材料零件所形成的气隙中。

其中，C型软磁材料零件的开口具有两个平行的对立端面。

其中，所述两个平行的对立端面的面积相同。

其中，C型软磁材料零件由高导磁的纯铁或者硅钢软磁材料制成。

其中，传送轨道由不导磁的材料制备。

其中，传送轨道上设置有刻度，用于对永磁体进行定位。

其中，传送轨道中设置有槽，永磁体能在凹槽中滑动。

其中，凹槽中设置推板或者传送带，用于传送永磁体。