[发明专利]一种在SiC陶瓷表面制备碳化硅纳米带的方法有效
申请号: | 201110359811.7 | 申请日: | 2011-11-15 |
公开(公告)号: | CN102491332A | 公开(公告)日: | 2012-06-13 |
发明(设计)人: | 李贺军;褚衍辉;付前刚;李克智 | 申请(专利权)人: | 西北工业大学 |
主分类号: | C01B31/36 | 分类号: | C01B31/36;B82Y40/00 |
代理公司: | 西北工业大学专利中心 61204 | 代理人: | 王鲜凯 |
地址: | 陕西省西*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 sic 陶瓷 表面 制备 碳化硅 纳米 方法 | ||
技术领域
本发明涉及一种制备碳化硅(SiC)纳米带的方法,在SiC陶瓷表面制备SiC纳米带的方法。
背景技术
近年来,由于纳米材料在现代科技领域潜在的应用价值,关于一维纳米材料(包括:纳米管、纳米线、纳米棒、纳米带等)的制备技术受到了广泛的关注。一维SiC纳米材料拥有优异的电学特性、光学特性和机械性能,在场发射、纳米电子器件以及先进复合材料领域具有潜在的巨大应用价值,其中SiC纳米带是作为在场发射、纳米电子器件以及先进复合材料领域应用的理想一维纳米材料。但是,目前国内外研究者关于SiC纳米带的制备方法报道较少。
文献1:“Quantum confinement effect and field emission characteristics of ultrathin3C-SiC nanobelts.Chemical Physics Letters,461(2008):242~245”介绍了一种利用Si粉、C粉和SiO2粉为原料,采用微波法制备SiC纳米带。但该方法制备的产物中含有大量的C粉、Si粉和SiO2粉,需要对其进行氧化纯化和酸纯化处理,进而使SiC纳米带的制备过程更加复杂。更为重要的是,在氧化纯化过程中,制备的SiC纳米带也会在一定程度上被氧化,很难制备出纯的SiC纳米带。上述缺点严重限制了该材料的广泛应用。
发明内容
要解决的技术问题
为了避免现有技术的不足之处,本发明提出一种在SiC陶瓷表面制备SiC纳米带的方法,可以简单、低成本、高效地制备大量的纯SiC纳米带,而且通过调整制备工艺可以对纳米带的形貌和尺寸进行控制。
技术方案
一种SiC纳米带的制备方法,其特征在于步骤如下:
步骤1:将质量百分比为10~15%的Si粉,15~30%的C粉,40~70%的SiO2粉和5~15%的二茂铁粉进行混合,然后置于松脂球磨罐中,球磨混合处理2~4小时;
步骤2:将粉料均匀铺满石墨坩埚底部,用一束3k碳纤维捆绑SiC陶瓷片后悬挂在石墨坩埚内的粉料上方;
步骤3:将石墨坩埚放入石墨为发热体的热压真空反应炉中,对真空炉进行真空处理后,通Ar至常压,以5~10℃/min升温速度将炉温从室温升至1600~1800℃,保温1~3小时,关闭电源自然冷却至室温;整个过程中通Ar保护;
步骤4:取出石墨坩埚,清理SiC陶瓷片上的碳纤维,在SiC陶瓷片上得到SiC纳米带。
所述SiC陶瓷片清洗后放入烘箱中烘干。
所述对真空炉进行真空处理为:抽真空30分钟后使真空度达到-0.09MPa,保真空30分钟。
所述Si粉的纯度为99.5%、粒度为300目。
所述C粉的纯度为99%,粒度为320目。
所述SiO2粉的纯度为分析纯、粒度为300目。
所述Al2O3粉的纯度为分析纯,粒度为100~200目。
所述二茂铁粉的纯度为分析纯,粒度为300目。
有益效果
本发明提出的一种在SiC陶瓷表面制备SiC纳米带的方法。该方法以Si粉、C粉和SiO2粉为原料,同时引入二茂铁作为催化剂,采用化学气相沉积法在SiC陶瓷表面一次性制备出大量的纯SiC纳米带。该方法可以简单、低成本、高效地制备大量的纯SiC纳米带,而且通过调整制备工艺可以对纳米带的形貌和尺寸进行控制。
本发明的有益效果:该方法生产成本低、工艺简单、制备周期短,合成SiC纳米带的产率和纯度高;此外,通过调整二茂铁的含量以及制备温度可以有效控制合成SiC纳米带的形貌和尺寸。这些优点使该方法具有发展成大规模工业成产的潜力。
附图说明
图1:是发明实施例2所制备的SiC纳米带的低倍SEM照片
图2:是发明实施例2所制备的SiC纳米带的高倍SEM照
具体实施方式
现结合实施例、附图对本发明作进一步描述:
实施例1:
分别称取10g的Si粉,15g的C粉,70g的SiO2粉和5g的二茂铁粉。置于松脂球磨罐中,取不同数量不同直径的玛瑙球放入松脂球磨罐中,在行星式球磨机上进行球磨混合处理2h,得到粉料。
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