[发明专利]一种过滤X射线参考辐射的能谱分析方法

权利要求书

1.一种过滤X射线参考辐射的能谱分析方法，包括如下步骤：

(1)建立由探测器、数字化谱仪、计算机组成的能谱测量系统，并对能谱测量系统进行能量刻度，测量得到过滤X射线的测量谱；

(2)用蒙特卡罗模拟和数学插值的方法确定能谱测量系统的响应矩阵；

(3)对测量得到的测量谱进行剥谱法和反卷能谱法分析，得到了过滤X射线的注量谱，并与理论计算谱进行比较。

2.如权利要求1所述的过滤X射线参考辐射的能谱分析方法，其特征在于：所述的能谱测量系统的探测器为HPGe探测器。

3.如权利要求1或2所述的过滤X射线参考辐射的能谱分析方法，其特征在于：步骤(1)中对能谱测量系统进行能量刻度的方法如下：取一同位素刻度源，接近探测器放置，开始测量其能谱；一段时间后，测量谱中出现明显的峰，将峰中心能量对应道址的能量改为该同位素刻度源的能量；再另取一不同能量的同位素刻度源，用相同的办法进行能量刻度；反复进行几次，挑选的同位素刻度源能量应能够覆盖即将测量连续X射线的能量范围。

4.如权利要求3所述的过滤X射线参考辐射的能谱分析方法，其特征在于：步骤(1)中对能谱测量系统进行能量刻度所选用的同位素刻度源包括：¹³⁷Cs、²⁴¹Am、¹⁵²Eu、¹³³Ba。

5.如权利要求1或2所述的过滤X射线参考辐射的能谱分析方法，其特征在于：步骤(2)中所述的蒙特卡罗模拟方法是首先对HPGe探测器及周围的其他实验装置和环境进行数学建模，然后通过模拟大量由放射源发射并通过HPGe探测器的单个X光子的历史，统计每个X光子在HPGe探测器中沉积的能量，得到服从统计分布的在HPGe探测器中能量沉积的分布。

6.如权利要求5所述的过滤X射线参考辐射的能谱分析方法，其特征在于：在蒙特卡罗模拟计算中使用MCNP5程序提供的F8计数类型卡记录光子在晶体中沉积的能量脉冲的幅度分布，然后选用计数特殊处理卡GEB对脉冲能量幅度分布进行高斯展宽。

7.如权利要求5所述的过滤X射线参考辐射的能谱分析方法，其特征在于：步骤(2)中所述的数学插值的方法是采用分段内插的方式，得到能量范围为6keV～305keV的光子在能谱测量系统中的完整的响应矩阵。

8.如权利要求1或2所述的过滤X射线参考辐射的能谱分析方法，其特征在于：步骤(3)中从测量谱得到注量谱是通过Gold反卷算法求解线性方程组M＝R×F，其中，F为注量谱，R为响应矩阵，M是实验测量得到的测量谱。