[发明专利]等离子体处理设备有效
申请号: | 201180041127.2 | 申请日: | 2011-11-21 |
公开(公告)号: | CN103081073A | 公开(公告)日: | 2013-05-01 |
发明(设计)人: | 池田真义;坂本清尚;泽田明宏;佐护康实;长谷川雅己;栗田资三 | 申请(专利权)人: | 佳能安内华股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/3065 | 分类号: | H01L21/3065;H05H1/46 |
代理公司: | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人: | 刘新宇 |
地址: | 日本神*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 等离子体 处理 设备 | ||
技术领域
本发明涉及一种等离子体处理设备,尤其涉及一种适用于干式蚀刻设备、等离子体CVD设备、溅射设备或表面改性设备的等离子体处理设备。
背景技术
作为用于基板处理的等离子体处理设备的等离子体源,目前已知有能够生成低压力、高密度的等离子体的电感耦合等离子体(以下称为“ICP”)和通过使得激励和传播螺旋波来生成等离子体的螺旋波等离子体(以下称为“螺旋波”)。通常,ICP利用向其施加射频电力的天线来生成等离子体。通常螺旋波包括与ICP相同的天线,并且还被配置成与磁路组合,从而使得可以通过等离子体传播螺旋波。
将参考图15(参考专利文献1)说明传统等离子体处理设备的结构的例子。等离子体处理设备配置有ICP设备。该设备包括可以将内部保持为减压状态的基板处理室101、支持基板处理室101中的基板103的基板支持机构102、将气体导入基板处理室101的气体导入机构104、用于在基板处理室101中生成等离子体的环形天线105、向天线105提供射频电力的射频电源106、以及用于在射频电源106向天线105提供射频电力时提供匹配的匹配电路107。基板处理室101由诸如石英等的非金属部101a和金属部101b形成,其中,金属部101b由铝或不锈钢等制成。在天线105周围配置用于扩散磁场的螺线管线圈108、109。此外,根据需要,在基板处理室101周围配置永磁铁110。设置永磁铁110是为了抑制基板处理室101的壁表面上的等离子体损失。利用以上结构,直流电源111、112分别向螺线管线圈108、109提供直流电力,因而在基板处理室101中产生磁场,从而使得在基板处理室101的非金属部101a中所生成的等离子体可以在基板处理室的金属部101b中扩散。顺便提及,为了便于说明,图15省略了对用于保持基板处理室101内的减压状态的排气机构、用于传送基板103的基板传送机构、基板温度控制机构、基板处理室101的壁表面温度控制机构和用于向气体导入机构104给送气体的供气机构等的图示。
接着说明使用上述等离子体处理设备的基板处理的过程。通过基板传送机构(未示出)将基板103传送至基板处理室101,并且将基板103固定在基板支持机构102上。通过排气机构(未示出)将基板处理室101中的压力降低至预定压力,此外,通过气体导入机构104将从供气机构(未示出)所给送的气体导入至基板处理室101中,然后保持基板处理室101处于预定压力状态下。射频电源106通过匹配电路107向天线105施加射频,从而在基板处理室101中生成等离子体,并且使用等离子体来处理基板103。顺便提及,对于螺旋波的激励,在施加射频期间,直流电源111、112向螺线管线圈108、109提供直流电流,因此在基板处理室101中形成磁场。此时,通常相反方向的电流流过螺线管线圈108、109。
此外,专利文献2公开了一种使用ECR(电子回旋共振)的蚀刻设备。图16示出专利文献2所公开的ECR(电子回旋共振)蚀刻设备。设备310用于通过石英窗313向设置在设备机体311的上部的电离室311a提供2.45GHz的微波314,并且使用外部磁性线圈312感应放电。在通过微波314和外部磁性线圈312所产生的磁场的影响下,电子达到回旋共振状态。受激电子使得蚀刻气体315离解,从而生成高密度等离子体。通过电离所产生的离子沿发散磁场通过引导电极316进入设置在设备机体311的下部的处理室311b,从而使得能够进行良好的定向(各向异性)蚀刻。此外,将支持基板301安装至基板保持器318,其中,基板保持器318是通过具有可任意设置倾斜角度的倾斜台317而以斜角保持的,此外,支持基板301通过电动机(未示出)而在转动轴319上转动。图16所示的ECR(电子回旋共振)蚀刻设备通过在蚀刻期间在支持基板301相对于离子束316a倾斜90°-α的情况下进一步转动转动轴319,形成倒锥形膜。
文献列表
专利文献
专利文献1:日本特开平10-172790
专利文献2:日本特开2002-18798
发明内容
技术问题
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造