[发明专利]放射线检测器

权利要求书

1.一种放射线检测器，其特征在于，具备：

(A)闪烁体，其由将放射线转换为荧光的闪烁体晶体排列而成；

(B)光检测器，其检测荧光；

(C)强度数据获取单元，其随时间的经过每隔固定的采样间隔获取由上述光检测器输出的表示荧光的强度的强度数据；

(D)强度数据累积单元，其累积由上述强度数据获取单元获取到的强度数据；

(E)存储单元，其存储多个阈值；

(F)事件检测单元，其将相继获取的强度数据与强度数据比较用的事件阈值进行比较，当强度数据超过事件阈值时识别出发生了放射线入射到上述闪烁体的事件，并获取发生该事件的时刻即事件发生时刻；

(G1)校正值获取单元，其从上述强度数据累积单元读出在上述事件发生时刻之前检测到的强度数据，基于读出的强度数据、双重事件阈值以及多重事件阈值获取校正值，该校正值用于校正由荧光的残光引起的强度数据的变动；以及

(H)累计单元，其对在上述事件发生时刻以前和上述事件发生时刻以后检测到的强度数据进行累计，并且利用校正值进行校正来计算出累计值。

2.根据权利要求1所述的放射线检测器，其特征在于，

在所获取到的校正值为上述双重事件阈值以上的情况下，上述校正值获取单元基于存储在上述存储单元中的将校正值与对应值相关联而得到的表来获取与校正值对应的对应值，

上述累计单元基于上述对应值来进行强度数据的校正。

3.根据权利要求2所述的放射线检测器，其特征在于，

在所获取到的校正值为表示比上述双重事件阈值高的强度的多重事件阈值以上的情况下，上述校正值获取单元不进行动作，累计单元不进行校正就计算出累计值。

4.一种放射线检测器，其特征在于，具备：

(A)闪烁体，其由将放射线转换为荧光的闪烁体晶体排列而成；

(B)光检测器，其检测荧光；

(C)强度数据获取单元，其随时间的经过每隔固定的采样间隔获取由上述光检测器输出的表示荧光的强度的强度数据；

(E)存储单元，其存储多个阈值；

(F)事件检测单元，其将相继获取的强度数据与强度数据比较用的事件阈值进行比较，当强度数据超过事件阈值时识别出发生了放射线入射到上述闪烁体的事件，并获取发生该事件的时刻即事件发生时刻；

(G2)校正值获取单元，其将由上述强度数据获取单元获取到的强度数据与荧光判定用的荧光阈值进行比较，小于荧光阈值的强度数据被判定为在没有发生上述事件的状态下获取到的强度数据，基于在该状态下获取到的强度数据来获取校正值，该校正值用于校正由荧光的残光引起的强度数据的变动；以及

(H)累计单元，其对在上述事件发生时刻以前和上述事件发生时刻以后检测到的强度数据进行累计，并且利用校正值进行校正来计算出累计值。

5.根据权利要求4所述的放射线检测器，其特征在于，

上述光检测器每隔某一时间间隔检测荧光，

上述强度数据获取单元的上述采样间隔比上述光检测器检测荧光时的时间间隔长。

6.根据权利要求4或5所述的放射线检测器，其特征在于，

上述强度数据获取单元获取强度数据时的采样间隔为10μs以上。

7.根据权利要求1至6中的任一项所述的放射线检测器，其特征在于，

还具备对上述光检测器供给电力的分压单元，

通过从强度数据减去基准水平的值来计算出由上述校正值获取单元获取的校正值，该基准水平是在不对上述光检测器供给电力的状态下获取到的强度数据。

8.根据权利要求1至7中的任一项所述的放射线检测器，其特征在于，

(I)上述校正值获取单元对多个强度数据进行平均来获取校正值。

9.根据权利要求4所述的放射线检测器，其特征在于，

(I)上述校正值获取单元对多个强度数据进行平均来获取校正值，

(J)上述校正值获取单元继续将强度数据与判定用的阈值进行比较，直到强度数据的个数为规定个数为止。

10.根据权利要求9所述的放射线检测器，其特征在于，

(K)上述校正值获取单元通过在获取到校正值之后仍继续将强度数据与判定用的阈值进行比较来相继获取校正值，每当获取到校正值时都进行校正值的更新。

11.根据权利要求1至10中的任一项所述的放射线检测器，其特征在于，

还具备荧光产生位置确定单元，该荧光产生位置确定单元利用由上述累计单元生成的累计值来确定闪烁体中的荧光的产生位置。