[发明专利]老化试验方法有效
申请号: | 201210117343.7 | 申请日: | 2012-04-20 |
公开(公告)号: | CN102749532B | 公开(公告)日: | 2016-11-09 |
发明(设计)人: | 岛泽幸司;细井亮;伊藤靖浩;金子正明;本田隆;藤井隆司;保坂浩治 | 申请(专利权)人: | TDK株式会社 |
主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00;G01R19/00 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 毛立群;李浩 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 老化试验 方法 | ||
1.一种老化试验方法,其中,以如下方式进行,
将多个光源元件和用于对来自多个光源元件的每一个的光输出进行监测的多个光检测器装入夹具台,
在至少使所述多个光源元件和所述多个光检测器浸渍在绝缘性的液体中的状态下,对所述多个光源元件通电。
2.根据权利要求1所述的老化试验方法,其中,所述绝缘性的液体,是具备相对于600~1000nm波长的光,每1mm厚度具有99.9%以上的透射率的物理性质的液体。
3.根据权利要求1所述的老化试验方法,其中,所述绝缘性的液体受到搅拌作用。
4.根据权利要求1所述老化试验方法,其中,
所述多个光源元件成列配置在作为基板的光源元件配置用条上,
各光检测器相对于各光源元件的发光面相向配置。
5.根据权利要求4所述的老化试验方法,其中,成列配置在所述光源元件配置用条上的多个光源元件通过分割成包含1个光源元件的1个单元,从而构成为具备设置在单元基板的作为光源元件的激光二极管的热辅助磁记录用的光源单元。
6.根据权利要求1所述的老化试验方法,其中,所述光源元件是激光二极管,所述光检测器是光电二极管。
7.根据权利要求5所述的老化试验方法,其中,
所述激光二极管具有上电极和下电极,
所述光源元件配置用条具备与激光二极管的下电极电连接的引出下电极,
使上电极用的片状探针和下电极用的片状探针分别接触于上电极及引出下电极,经由上电极用的片状探针及上电极与下电极用的片状探针及引出下电极,对激光二极管进行通电。
8.根据权利要求5所述的老化试验方法,其中,对所述激光二极管进行通电,对从该激光二极管获得规定的光输出所需要对该激光二极管供给的电流的时间变化进行计测。
9.一种试验装置,用于实施权利要求5所述的老化试验方法,其中,构成为具备:
夹具台,构成为以对于光源元件的发光面相向配置的方式固定光检测器;
片状探针组,交替地配置有上电极用的片状探针和下电极用的片状探针;
控制器,接受来自光检测器的测定输出,控制对光检测器供给的电流,控制并计测电流;以及
容器主体,构成为能够收容夹具台,并且贮存绝缘性的液体,
所述夹具台构成为能够以可拆装的方式对配置有光源元件的光源元件配置用条进行固定,
通过在所述容器主体中贮存绝缘性的液体,从而将在所述夹具台安装的光源元件和光检测器浸渍在绝缘性的液体中。
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