[发明专利]用于微小非球面加工的在位测量装置无效
申请号: | 201210140443.1 | 申请日: | 2012-05-09 |
公开(公告)号: | CN102636131A | 公开(公告)日: | 2012-08-15 |
发明(设计)人: | 朱勇建;胡汉民;潘卫清;耿德英;丁家伟;孙健 | 申请(专利权)人: | 丹阳市民杰光学仪器有限公司 |
主分类号: | G01B11/25 | 分类号: | G01B11/25 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 212300 *** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 微小 球面 加工 在位 测量 装置 | ||
1.一种用于微小非球面加工的在位测量装置,有计算机1,其特征在于,可配置双屏显卡、图像采集卡,与ccd镜头兼容;普通液晶显示器2,其特征在于,与计算机1相连接,可独立显示条纹图;ccd镜头3,其特征在于具有较小的f数,可清晰拍摄离焦条纹图;模具4,其特征在于小口径非球面模具样品,表面光滑;变频条纹图处理软件5,其特征在于,用于处理变频条纹图,可实现任意组变频条纹的处理。
2.根据权利要求1所述的非球面测量装置,其特征在于,所述的显示器2、ccd镜头3与被测非球面4成空间等边三角形,相互夹角成60。
3.根据权利要求1所述的非球面测量装置,其特征在于,所述ccd镜头3要求有较小的f数(<1);
4.根据权利要求1所述的非球面测量装置,其特征在于,所述非球面样品4的口径小于10mm,表面是镜面,并且非球面的深度不宜过大。
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