[发明专利]天线测试装置及其天线测试单元

说明书

技术领域

本发明涉及一种天线测试装置，特别是涉及一种可携式电子装置的近场测试的天线测试装置。

背景技术

针对可携式电子装置的天线测试，目前一般使用耦合式天线、水平天线以及指向性天线进行测试。然而，使用耦合式天线进行测试时，会因为测试天线太小或是距离太远而发生补偿过大的问题。使用水平天线进行测试时，会因为测试天线的辐射角度过大而有补偿不稳定的问题。使用指向性天线进行测试时，会因为测试天线的辐射角度较小而辐射强度过大，而造成辐射折射的问题。

发明内容

本发明即为了欲解决现有技术的问题而提供的一种天线测试装置，用以测试一电子装置的无线传输效果，包括一平台、一发射单元、一补偿单元以及一测试区。发射单元形成于该平台之上，其中，一馈入信号馈入至该发射单元。补偿单元形成于该平台之上，其中，一辐射场形成于该发射单元与该补偿单元之间。测试区位于该发射单元以及该补偿单元之间，其中，该电子装置置于该测试区以进行测试。

本发明的实施例也提供一种天线测试单元，应用于上述天线测试装置，该天线测试单元包括一接地元件以及一辐射体。辐射体包括一本体、一第一辐射体单元以及一第二辐射体单元。第一辐射体单元连接该本体，该第一辐射体单元包括一第一翼形部以及一第二翼形部，其中，该第一翼形部的形状对称该第二翼形部的形状。第二辐射体单元连接该本体，该第二辐射体单元包括一第一段部以及一第二段部，该第一段部朝该第一翼形部延伸，该第二段部朝该第二翼形部延伸。

应用本发明实施例的天线测试装置，可以近场测试的方式对电子装置进行测试，特别是，可提供高、中、低频段的宽频测试。并且，由于使用形状对称的补偿单元，因此，通过发射单元与补偿单元之间的耦合，以补偿接收不足的辐射空间，可提供完全辐射测试的功能。

附图说明

图1是本发明第一实施例的天线测试装置；

图2是本发明第二实施例的天线测试装置；

图3是本发明第三实施例的天线测试装置；以及

图4是本发明第四实施例的天线测试装置。

主要元件符号说明

1、2、3、4～天线测试装置；

10～发射单元；

20～补偿单元；

30～平台；

31～测试区；

101～接地元件；

102～辐射体；

110～第一辐射体单元；

111、111’～第一翼形部；

112、112’～第二翼形部；

113～第一延伸部；

1131～第一延伸端；

1132～第一弯折边缘；

114～第二延伸部；

1141～第二延伸端；

1142～第二弯折边缘；

115、115’～第一弯折部；

116、116’～第二弯折部；

120～第二辐射体单元；

121～第一段部；

122～第二段部；

123～连接段部；

124～第一延伸段部；

125～第二延伸段部；

130～本体；

131～本体缺口；

140～馈入部；

E～电子装置。

具体实施方式

参照图1，其是显示本发明第一实施例的天线测试装置1，用以测试一电子装置E的无线传输效果。天线测试装置1包括一平台30、一发射单元10、一补偿单元20以及一测试区31。发射单元10形成于该平台30之上，其中，一馈入信号馈入至该发射单元10。补偿单元20形成于该平台30之上，其中，一辐射场形成于该发射单元10与该补偿单元20之间。测试区31位于该发射单元10以及该补偿单元20之间，其中，该电子装置E置于该测试区31以进行测试。在本发明的实施例中，该发射单元10的形状与该补偿单元20的形状，相对于该测试区31而大致彼此对称。