[发明专利]用于水蜜桃褐腐病缺陷检测的特征角余弦值方法有效
申请号: | 201210386636.5 | 申请日: | 2012-10-12 |
公开(公告)号: | CN102890092A | 公开(公告)日: | 2013-01-23 |
发明(设计)人: | 饶秀勤;陈思;应义斌;张若宇 | 申请(专利权)人: | 浙江大学 |
主分类号: | G01N21/88 | 分类号: | G01N21/88 |
代理公司: | 杭州求是专利事务所有限公司 33200 | 代理人: | 林怀禹 |
地址: | 310027 浙*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 水蜜桃 褐腐病 缺陷 检测 特征 余弦 方法 | ||
1.一种用于水蜜桃褐腐病缺陷检测的特征角余弦值方法,其特征在于,该方法的步骤如下:提取水蜜桃高光谱图像中660nm、680nm及700nm波段图像,对图像进行二值分割去背景、均值滤波和均值归一化后,计算3个波段图像像素构成的特征角的余弦值,以此作为特征值构建LDA像素分类器,实现水蜜桃褐腐病缺陷检测。
2.根据权利要求1所述的一种用于水蜜桃褐腐病缺陷检测的特征角余弦值方法,其特征在于:
1)所述提取波段图像:以黑色托盘为背景,采集高光谱图像,并提取660nm、680nm及700nm波段的水蜜桃图像;
2)所述对图像进行二值分割去背景:以680nm波段图像为对象,进行阈值分割,即采用阈值为图像像素最大灰度值×0.12的分割,大于该阈值的区域为水果区域;
3)所述均值滤波:对660nm、680nm及700nm波段图像的水果区域进行3×3均值滤波,即对每个像素点和该像素点周围8邻域内的像素求均值作为该像素点处的值,此8邻域用3×3掩膜矩阵覆盖,依次遍历整个水果区域;
4)所述均值归一化:对水果区域内的每一个像素点(x,y)作如下处理:对像素点(x,y)处的光谱值离散序列求均值,即对660nm、680nm及700nm波段处的光谱值求和取平均,得每个波段光谱值除以此均值,实现高光谱图像的均值归一化;计算公式如下:
其中,N----为波段数,这里N=3,即λ1=660nm,λ2=680nm,λ3=700nm;RMeanN(x,y,λi)----为经过均值归一化后的λi波长处的波段图像;RMeanF(x,y,λi)----为经过均值滤波后的λi波长处的波段图像;
5)所述特征角的余弦值计算:选取水果区域内的一个像素点(x,y),以波长值为横坐标,光谱归一化值为纵坐标作光谱图,分别取该像素点光谱图的三点:A(λA,RA)、B(λB,RB)、C(λC,RC),以夹角∠ABC为特征角,λA=660nm,λB=680nm,λC=700nm,采用公式(2)计算其余弦值:
6)所述建立分类器:以每个像素的特征角余弦值cosθ为特征值,取正常区和褐腐病区的像素各100个,分为0类和1类:正常区像素为0类,褐腐病区像素为1类,作为训练集,构建LDA像素分类器;
7)所述水蜜桃褐腐病缺陷检测:计算待测水果图像水果区域内每个像素的特征角余弦值cosθ,如果cosθ的值距离0类集群比1类集群近,则判为0类,反之判为1类;根据此原理,利用步骤6)构建的LDA像素分类器对水果区域内的像素进行分类,褐腐病缺陷区域像素值为1,正常区域为0,实现水蜜桃褐腐病缺陷检测。
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