[发明专利]一种光网络性能监测装置及监测方法

权利要求书

1.一种光网络性能监测装置，其特征在于，包括：耦合器（1）、滤波器（2）、第一光强度探测元件（3）、第二光强度探测元件（4）、第一频谱分析仪（5）、第二频谱分析仪（6）、除法运算单元（7），其中：

耦合器（1），用于将待测信号分为两路，把待测信号输入至所述耦合器（1）的输入端口，所述耦合器（1）的第一输出端口连接所述滤波器（2）的输入端口，耦合器（1）的第二输出端口连接所述第一光强度探测元件（3）的输入端口；

滤波器（2），用于滤除待测信号的边带分量，所述滤波器（2）的输出端口连接所述第二光强度探测元件（4）的输入端口；

第一光强度探测元件（3）和第二光强度探测元件（4），用于检测待测信号的光强度，所述第一光强度探测元件（3）的输出端口连接所述第一频谱分析仪（5）输入端口，所述第二光强度探测元件（4）的输出端口连接所述第二频谱分析仪（6）的输入端口；

第一频谱分析仪（5）和第二频谱分析仪（6），用于检测待测信号的RF功率，所述第一频谱分析仪（5）输出端口以及所述第二频谱分析仪（6）的输出端口共同接入除法运算单元（7）进行除法处理，由除法运算单元（7）输出检测结果。

2.根据权利要求1所述的光网络性能监测装置，其特征在于，所述耦合器（1）的分光比是1:1。

3.根据权利要求1所述的光网络性能监测装置，其特征在于，所述滤波器（2）是高斯二阶带通滤波器。

4.根据权利要求3所述的光网络性能监测装置，其特征在于，所述滤波器（2）的带宽是10GHz。

5.根据权利要求1所述的光网络性能监测装置，其特征在于，所述第一频谱分析仪（5）和第二频谱分析仪（6）是RF功率检测分析仪。

6.一种根据权利要求1至5中任一项所述的光网络性能监测装置的监测方法，其特征在于，包括：

步骤S101，把待测信号输入所述光网络性能监测装置，利用耦合器（1）把待测信号分为两路，耦合器（1）的第一输出端口输出的待测信号通过滤波器（2）滤除其双边带信号的其中之一边带分量，然后进入步骤S102；耦合器（1）的第二输出端口输出的待测信号直接进入步骤S102；

步骤S102，对两路信号分别进行光强度检测；

步骤S103，对两路信号分别进行RF功率检测，第二频谱分析仪（6）输出的RF功率记为P₁，第一频谱分析仪（5）输出的RF功率记为P₂；

步骤S104，利用公式R=P₂/P₁，求得待测信号的双边带和单边带的功率比R，通过功率比R衡量待测信号的光网络性能。

7.根据权利要求6所述的监测方法，其特征在于，在将待测信号输入所述光网络性能监测装置前，还包括前期处理：

步骤S201，输入直流光进入待测信号的调制装置，调节所述调制装置的偏振状态，当传输端功率达到最大值，并且反射端功率达到最小值时，固定所述调制装置的偏振状态；

步骤S202，保持所述调制装置的偏振状态，把检测信号输入CD色散产生装置，用来模拟CD色散；

步骤S203，保持所述调制装置的偏振状态，把经过所述CD色散产生装置的检测信号输入PMD产生装置，用来产生PMD色散；

步骤S204，把经过所述PMD产生装置的检测信号输入所述光网络性能监测装置。