[实用新型]氮化硅膜及含有氮化硅膜的硅片和太阳能电池有效
申请号: | 201220414730.2 | 申请日: | 2012-08-16 |
公开(公告)号: | CN202695460U | 公开(公告)日: | 2013-01-23 |
发明(设计)人: | 范志东;赵学玲;李倩;解占壹;李永超;王涛 | 申请(专利权)人: | 英利能源(中国)有限公司 |
主分类号: | H01L31/0216 | 分类号: | H01L31/0216 |
代理公司: | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人: | 吴贵明;余刚 |
地址: | 071051 河*** | 国省代码: | 河北;13 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 氮化 含有 硅片 太阳能电池 | ||
1.一种氮化硅膜,包括依次设置在硅片(10)上的钝化层(21)和减反射膜层(22),所述氮化硅膜(20)的厚度为80~90nm,折射率为2.08~2.12,其特征在于,所述减反射膜层(22)包括第一减反射膜层(221)和设置在所述第一减反射膜层(221)上的第二减反射膜层(222)。
2.根据权利要求1所述的氮化硅膜,其特征在于,所述氮化硅膜(20)的折射率沿着远离所述硅片(10)的方向依次递减。
3.根据权利要求2所述的氮化硅膜,其特征在于,
所述第一减反射膜层(221)的厚度为20~30nm;
所述第二减反射膜层(222)的厚度为40~60nm;
所述第二减反射膜层(222)的折射率比所述第一减反射膜层(221)的折射率小0.5。
4.根据权利要求3所述的氮化硅膜,其特征在于,所述第一减反射膜层(221)的厚度为30nm,所述第二减反射膜层(222)的厚度为40nm。
5.根据权利要求4所述的氮化硅膜,其特征在于,所述第一减反射膜层(221)的折射率为2.10~2.15;所述第二减反射膜层(222)的折射率为2.05~2.10。
6.一种太阳能电池用硅片,其特征在于,所述硅片上设置有权利要求1至5中任一项所述的氮化硅膜。
7一种太阳能电池,包括硅片,其特征在于,所述硅片为权利要求6中所述的太阳能电池用硅片。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的