[实用新型]高低温测试温控台

说明书

技术领域

本实用新型涉及光电器件制造领域，尤其是一种高低温测试温控台。

背景技术

现有的测试温控台，普遍使用温循设备，设备费用大，使用费用大，速度慢，能源浪费。

故，需要一种新的技术问题以解决上述问题。

实用新型内容

本实用新型的目的是针对现有技术存在的不足，提供一种结构简单、成本低的高低温测试温控台。

为实现上述发明目的，本实用新型高低温测试温控台可采用如下技术方案：

一种高低温测试温控台，包括半导体制冷片、万用表及控制电路，所述半导体制冷片上设有第一热敏电阻及第二热敏电阻，所述第一热敏电阻与控制电路连接，第二热敏电阻与万用表连接。

与背景技术相比，本实用新型高低温测试温控台结构简单、成本低且易于操作。

附图说明

图1是本实用新型高低温测试温控台的结构示意图。

具体实施方式

下面结合附图和具体实施例，进一步阐明本实用新型，应理解这些实施例仅用于说明本实用新型而不用于限制本实用新型的范围，在阅读了本实用新型之后，本领域技术人员对本实用新型的各种等价形式的修改均落于本申请所附权利要求所限定的范围。

请参阅图1所示，本实用新型公开一种高低温测试温控台，包括半导体制冷片20、万用表30及控制电路40。所述半导体制冷片20上设有第一热敏电阻21及第二热敏电阻22。所述半导体制冷片20和第一热敏电阻21与控制电路40连接，第二热敏电阻22与万用表30连接。本实用新型高低温测试温控台结构简单、成本低且易于操作。