[实用新型]基于塞曼频率的剩场量测量系统

权利要求书

1.一种基于塞曼频率的剩场量测量系统，包括光源（201）、微处理器（207），其特征在于，还包括：用于对所述光源（201）辐射的光束进行滤光的滤光单元（202）、用于为经过所述滤光单元（202）滤光处理的光束完成共振跃迁的共振吸收模块（203）、用于对所述共振吸收模块（203）输出的光信号进行检测的光电检测单元（206）、用于为所述共振吸收模块（203）提供能量的微波源（204）、用于为所述共振吸收模块（203）完成原子分裂及量子化轴提供磁场的磁场控制模块（205）及用于调节控制所述磁场控制模块（205）的电流控制模块（208）；

所述光源（201）与所述滤光单元（202）连接，所述滤光单元（202）与所述共振吸收模块（203）连接，所述共振吸收模块（203）依次与所述微波源（204）、所述磁场控制模块（205）、所述光电检测单元（206）连接，所述微处理器（207）依次与所述微波源（204）、所述磁场控制模块（205）、所述电流控制模块（208）连接，所述电流控制模块（208）与所述磁场控制模块（205）连接。

2.根据权利要求1所述基于塞曼频率的剩场量测量系统，其特征在于：

所述滤光单元（202）呈泡状腔体结构，所述光源（201）用于辐射光束的元素是M，所述滤光单元（202）中工作物质是所述M元素的同位素N元素；

所述光源（201）辐射的光束通过所述滤光单元（202）进行滤光处理，并通过所述滤光单元（202）传送至所述共振吸收模块（203）。

3.根据权利要求2所述基于塞曼频率的剩场量测量系统，其特征在于，所述共振吸收模块（203）包括：共振吸收单元、谐振腔（1）；

所述共振吸收单元呈泡状腔体结构，所述谐振腔（1）呈圆柱形腔体结构，所述共振吸收单元置于所述谐振腔（1）内部，用于为经所述滤光单元（202）滤光后的光束完成共振跃迁。

4.根据权利要求3所述基于塞曼频率的剩场量测量系统，其特征在于，所述磁场控制模块（205）包括：漆包线（2）、电流开关（209）；

所述漆包线（2）缠绕在所述谐振腔（1）外壁上，并通过所述电流开关（209）与所述电流控制模块（208）连接。

5.根据权利要求4所述基于塞曼频率的剩场量测量系统，其特征在于：

所述电流控制模块（208）输出电流为恒流，所述微处理器（207）通过所述电流控制模块（208）调节控制所述磁场控制模块（205）磁场强度。

6.根据权利要求5所述基于塞曼频率的剩场量测量系统，其特征在于：

所述微波源（204）输出信号频率通过所述微处理器（207）进行调节控制，所述微波源（204）输出信号频率控制在所述M元素原子基态超精细结构跃迁中心频率附近。

7.根据权利要求2-6任一项所述基于塞曼频率的剩场量测量系统，其特征在于：

所述M元素是⁸⁷Rb，所述N元素是⁸⁵Rb。