[发明专利]用于低温下的粒子的光学分析的方法和设备

权利要求书

1.一种用于粒子(2)的光学分析的方法，所述粒子以悬浮的方式包含在低于露点温度的温度下的流体中，所述方法包括以下步骤：

ⅰ.将所述粒子以悬浮的方式布置在至少一个微室(4)内，所述微室包含所述流体并且界定在第一表面与第二表面(5，6)之间；

ⅱ.通过第一热阻(RLW)将所述第一表面(5)热耦合至适于从所述流体中汲取热量的第一冷却装置(7)，并且通过第二热阻(RHI)将所述第二表面(6)热耦合至光学检查表面(8)；

ⅲ.通过所述第一冷却装置使所述流体达到低于露点温度的第一温度(T1)；

ⅳ.在所述粒子(2)正被光学分析时，在所述光学检查表面(8)处建立热流(F)，使得将所述光学检查表面恒定地保持处于高于包含在包围所述光学检查表面(8)的空气中的环境湿气的露点温度(Td)的第二温度(T2)；选择所述第一热阻和所述第二热阻，使得所述第二热阻(RHI)具有的热导率值比所述第一热阻(RLW)的热导率值低两个数量级，

其中，通过将所述光学检查表面(8)加热至高于环境空气露点来执行步骤(iv)，其中通过布置在所述微室(4)外部并布置在所述光学检查表面上的电阻器(24b)的焦耳效应来加热所述光学检查表面，所述电阻器选自这样的组，所述组由以下构成：透明导电电阻层(25)，所述透明导电电阻层均匀地应用在整个所述光学检查表面上；多个纤维状的微电阻器(26)，布置在所述光学检查表面上；和/或通过迫使空气在所述光学检查表面(8)上流动来加热所述光学检查表面，

或者其中，通过在一温度下冷却直接围绕所述光学检查表面(8)并因此包围所述光学检查表面的一数量的环境空气来执行步骤(iv)，使得所述数量的空气的所述露点温度(Td)低于所述光学检查表面的所述第二温度(T2)。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述透明导电电阻层(25)是ITO。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，多个纤维状的所述微电阻器(26)以梳状布置在所述光学检查表面上，并且彼此均匀地间隔开。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，提供纤维状的所述微电阻器(26)，使得通过使用与纤维状的所述微电阻器相对布置的电流配线架(27)而使电流密度分布均匀，所述电流配线架则通过多个导体桥(30)接收电流，所述导体桥将所述配线架的布置在与纤维状的所述微电阻器相对的侧面上的多个不同的点(28)连接至至少一个共用集电器(31)。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，通过连续测量所述光学检查表面的瞬时温度(T2)来反馈地控制所述光学检查表面的温度。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，通过应用于所述光学检查表面的电阻器或者通过面向所述光学检查表面布置的红外传感器来连续测量所述光学检查表面的所述瞬时温度(T2)。

7.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，根据通过合适的传感器连续地检测的环境空气温度参数和环境空气湿度参数来计算所述光学检查表面所保持的所述温度(T2)。