[发明专利]用于确定在中央单元和多个相互独立的电子构件之间的连接线中的故障的方法和装置

权利要求书

1.一种用于确定在连接线(120)中的至少一个故障(125、126、127)的方法(200)，所述连接线在多个电子的连接单元(117a-c)和多个相互独立的外围的单元(130)之间，其中，所述多个连接单元(117a-c)通过易失性的、在控制单元(115)中编程的算法来控制并且其中在所述外围的单元(130a-c)和所述多个连接单元(117)之间的所述连接线(120)分别借助于至少一个双线线路来实施，其中，所述方法(200)具有以下步骤：

-将开始信号从所述控制单元(115)输出(210)至所述多个连接单元(117a)中的第一连接单元(130a)，以便开始所述故障(125)的确定；

-将测试信号施加(220)至所述多个连接单元(117a)中的第一连接单元的接口(140a)，其中，所述测试信号的施加通过非易失性地在所述第一连接单元(117a)中编程的第一算法(160a)来加以监控和/或控制；

-在第二连接单元(117b)的接口(140b)处获取(230)所述测试信号的过临界耦合并且将表示所述过临界耦合的故障值保存在第一寄存器(170b)之中，其中，所述故障值的获取和保存通过非易失性地在所述第二连接单元(117b)中编程的第二算法(160b)来加以监控和/或控制；并且

-通过所述控制单元(110)至少从所述第一寄存器(170b)中读出(240)至少一个故障值，以便确定在所述第一连接单元(117a)和多个外围的单元(130)之间的所述连接线(120)中的所述故障。

2.根据权利要求1所述的方法(200)，其特征在于，在所述获取(230)的步骤中还进行在所述第一连接单元(117a)的第二接口(150a)处的所述测试信号的过临界耦合的获取并且进行将表示所述过临界耦合的第二故障值在第二寄存器(170a)之中的保存，其中，在所述第一连接单元(117a)的所述第二接口(150a)处的所述测试信号的过临界耦合的所述获取和所述第二故障值的所述保存通过所述第一算法(160a)来加以监控。

3.根据前述权利要求中任一项所述的方法(200)，其特征在于将另一个测试信号施加在所述第二连接单元(117b)的所述接口(140b)上的步骤，其中，通过所述第二算法(160b)来监控所述另一个测试信号的施加并且其中还设置有在所述第一连接单元(117a)中的所述第一接口(140a)处的所述另一个测试信号的过临界耦合的获取的步骤和将表示所述另一个测试信号的所述过临界耦合的第三故障值在第三寄存器(170a)中保存的步骤，其中，通过所述第一算法(160a)来监控和/或控制所述另一个测试信号的所述过临界耦合的所述获取的步骤和所述第三故障值的所述保存的步骤。

4.根据权利要求3所述的方法(200)，其特征在于在所述另一个测试信号的过临界耦合的所述获取的步骤中还进行在所述第二连接单元(117b)的至少一个第二接口(150b)上的所述另一个测试信号的过临界耦合的获取和表示所述过临界耦合的第四故障值在第四寄存器(170b)中的保存，其中，通过所述第二算法(160b)来监控和/或控制所述另一个测试信号的所述过临界耦合的所述获取和所述第四故障值的所述保存。

5.根据权利要求3或4中任一项所述的方法(200)，其特征在于在所述另一个测试信号的所述保存的步骤之前由所述第一算法(160a)将控制信号输出至所述第二算法(160b)，以便通过所述第二算法(160b)来开始所述另一个测试信号的施加。

6.根据前述权利要求中任一项所述的方法(200)，其特征在于在所述获取(230)的步骤中还实现在第三连接单元(117c)的接口(140c)上的所述测试信号的过临界耦合的获取和表示在所述第三连接单元(117c)的所述接口(140c)上的所述测试信号的所述过临界耦合的第五故障值在第五寄存器(170c)中的保存，其中，通过非易失性地在所述第三连接单元(117c)中编程的第三算法(160c)来监控和/或控制在第三连接单元(117c)的所述接口(140c)上的所述测试信号的过临界耦合的获取和所述第五故障值的保存。

7.根据前述权利要求中任一项所述的方法(200)，其特征在于在所述施加(220)的步骤和所述获取(230)的步骤之间等待一个预先限定的时间段。